本文件描述了使用扫描氮空位探针显微技术对样品产生的微弱静磁场进行成像的方法。本文件适用于使用扫描氮空位探针显微镜进行样品表面磁感应强度成像。具体场景如下：--对以磁性薄膜、二维磁性材料等为代表的弱磁性样品（磁感应强度典型值＜10 mT)进行磁成像；--对矫顽力低的磁性样品进行磁成像；--对磁结构或磁矩密度进行定量研究；--对微观尺度电流磁场进行成像。〓〓注： 本文件涉及的氮空位色心特指金刚石中带负电荷的氮空位色心。

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本文件界定了纳米科技中与量子现象相关的术语和定义。
本文件适用于纳米科技，其中许多术语也适用于某些更大尺度的体系。
本文件未涵盖纳米科技中全部量子概念和现象，但涵盖了学术界、工业界等许多利益方公认的重要现象。
本文件旨在促进在工业界的组织和个体以及对其感兴趣的人员之间的交流。
注1： 传统物理学和量子物理学的一些术语见附录A。
注2： 纳米科技术语与实际应用和产品的对照关系见附录B。

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本文件描述了一种在标准混凝土楼板模块上铺设覆面层并以标准撞击器激励时测定楼板覆面层撞击声改善量的实验室方法。
本方法仅适用于测量“局部”传递撞击声的软质和柔性的楼板覆面层，此类局部反应楼板覆面层在紧靠激励点的区域向下传递撞击声，因此试件的大小对测试结果没有影响。局部反应楼板覆面层包括地毯、聚氯乙烯(PVC)地板和地毡等柔软性的地面材料。
本文件仅涉及噪声辐射测量，不涉及楼板覆面层质量的主观分级。
本方法与ISO 10140(所有部分)规定的方法相比，在测量频率范围内两种方法测量结果的偏差一般在测量不确定度范围之内。如果两种方法的测量结果出现较大差异，则以按ISO 10140（所有部分）测量的结果为准。
本文件提供了测量方法，关于试件的技术要求(例如：温度范围、试件数量或试件安装条件等)一般由产品测试规程进一步规定。 
注：如果被测试件不是柔软性的材料，例如那些夹层结构，由于测试结果与试件尺寸有关，那么测试结果与按ISO 10140（所有部分）测试相比，二者间的偏差可能会增大。

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本文件描述了一种测量表面方向性扩散系数的方法。
扩散系数描述表面反射声方向性分布的均匀性，是衡量表面声散射特性的一个指标，用于向生产和使用者说明表面的声扩散性能，也为室内声学预测模型的开发人员和用户提供信息。但是，扩散系数不适合直接作为室内的几何声学模型中现行扩散算法的输入量。
本文件还详细描述了自由场中表面声扩散特性的表征方法。

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本文件描述了离子束辐照诱导应变技术构建三维纳米结构与器件的加工方法，主要包括加工原理、材料与设备、环境条件、加工方法。本文件适用于离子束辐照诱导直立纳米线和平面纳米薄膜的空间应变，进而实现三维空间中由一维纳米线和二维纳米薄膜构成的三维纳米结构与器件。

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本标准规定了金纳米棒光热效应评价的原理、仪器部件、样品制备、测试步骤和数据处理。本标准适用于金纳米棒溶胶体系光热效应的评价，其他贵金属纳米颗粒溶胶体系的光热效应评价亦可参照本标准执行。

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This standard specifies the principle,instruments,sample preparation,measurement steps and data analysis for the evaluation of the photothermal effect of gold nanorods (GNRs).
This standard is applicable to the evaluations of photothermal effects of GNRs sol and other noble metal nanoparticles sol.

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本标准界定了仪器化纳米压入试验在基础通用、仪器特性、力学测量、参数识别、试验样品、测试设定方面所涉及的常用术语及其定义。
本标准主要适用于仪器化纳米压入试验，也可拓宽至仪器化压入试验。

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GB/T 30113的本部分规定了空间微重力流体物理实验阴影、纹影测量系统设计和测试的原则、要求和方法。
本部分适用于在空间微重力环境中使用的，航天器载荷的阴影、纹影测量系统的设计和测试，落塔、抛物线飞机和地面实验的阴影、纹影测量系统设计和测试也可参考使用。

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本标准确定了摩擦学常用术语及其定义或定义性说明。
本标准适用于摩擦学及其相关领域的技术标准、技术文件、教材、书刊的编写和翻译，以及摩擦学科研、教学、学术交流和工程应用。

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本标准规定了测试薄膜压入硬度和弹性模量的仪器化纳米压入试验方法。
本标准适用于附着在固体表面的薄膜。压入方向为垂直于试样表面方向，压入深度范围通常在纳米量级，也可以扩展至几微米。

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This standard specifies the instrumented nanoindentation test methods for measuring the indentation hardness and modulus of thin film.
This standard is applicable to thin film adhering to solid surface.The indentation direction is perpendicular to the sample surface.The depth range of indentation is usually manometers and can be also extended to several micrometers.

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本标准规定了对仪器化纳米压入试验用仪器的能力要求和试验的基本方法，还规定了对仪器校准和检验、压头、标准样品的要求，以及仪器柔度和压头面积函数的确定方法，并给出了确定硬度和材料参数所需的数据分析方法和压头使用的注意事项。
本标准适用于测试各种体材料和薄膜的硬度、模量等，其压入深度范围通常在纳米量级，也可以扩展至几微米。

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This standard specifies the capability requirements and basic test methods for instrumented nanoindentation test instruments,also specifies the requirements for instrument calibration and inspection,indenter and reference materials,and the determined method of instrument compliance and indenter area function.This standard gives the data analysis methods for determining hardness and material parameters and cautions for use of indenter.
This standard is applicable to measure hardness and modulus etc.of various bulk materials and thin films.The range of the indentation depth is generally at nanoscale and can be also extended to several micrometers.

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