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【国家标准】 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法　第4部分：介电常数和介质损耗角正切值测试方法

本网站 发布时间： 2016-05-30
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适用范围：

GB/T 5594的本部分规定了装置零件、真空电子器件、电阻基体、半导体及集成电路基片等用电子陶瓷材料介电常数和介质损耗角正切值的测试方法。本部分适用于装置零件、真空电子器件、电阻基体、半导体及集成电路基片等用电子陶瓷材料在频率为1 MHz ，温度从室温至500 ℃条件下的介电常数和介质损耗角正切值的测试。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 5594.4-2015

  • 标准名称：

    电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法　第4部分：介电常数和介质损耗角正切值测试方法

  • 英文名称：

    Test methods for properties of structure ceramic used in electronic component and device—Part 4:Test method for permittivity and dielectric loss angle tangent value

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2015-05-15

  • 实施日期：

    2016-01-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    31-030

  • 中标分类号：

    L90

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

    12 页

  • 字数：

    14 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    曾桂生 李晓英 薛晓梅

  • 起草单位：

    中国电子科技集团公司第十二研究所、中国电子技术标准化研究院、北京七星飞行电子有限公司

  • 归口单位：

    中国电子技术标准化研究院

  • 提出部门：

    中华人民共和国工业和信息化部

  • 发布部门：

    中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
  • 其它标准
  • 推荐标准
  • 国家标准计划

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