集成电路电磁抗扰度测量第2部分：辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法-Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part 2: Measurement of radiated immunity-TEM Cell and wideband TEM Cell method-中国标准在线服务网

介绍	国家标准计划《集成电路电磁抗扰度测量第2部分：辐射抗扰度测量TEM小室和宽带TEM小室法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。拟实施日期：发布即实施
项目进度	起草征求意见审查批准发布
基础信息	计划号：20204063-T-339
	制修订：制定
	项目周期： 18个月
	下达日期：2020-11-19
	标准类型：方法
	中国标准分类号：31.200
	国际标准分类号：L56
	组织起草部门：国家标准化管理委员会
	技术委员会：全国集成电路标准化技术委员会
起草单位	中国电子技术标准化研究院、中国汽车工程研究院股份有限公司、安徽中认倍佳科技有限公司、厦门海诺达科学仪器有限公司、深圳市北测标准技术服务有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、天津先进技术研究院、工业和信息化部电子第五研究所、中国家用电器研究院、重庆邮电大学、北京星河亿海科技有限公司、浙江诺益科技有限公司、中国信息通信研究院、重庆仕益产品质量检测有限责任公司、北京邮电大学、东莞职业技术学院
采标情况	本标准等同采用IEC国际标准：IEC 62132-2:2010
采标情况	采标中文名称:集成电路电磁抗扰度测量第2部分：辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法