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提示：
Nanotechnology—Determination of the uniformity of SERS solid substrate—Raman mapping analysis
| 介绍 | 国家标准计划《纳米技术表面增强拉曼固相基片均匀性测量拉曼成像分析法》由TC279（全国纳米技术标准化技术委员会）归口，主管部门为中国科学院。拟实施日期：发布后6个月正式实施 |
| 项目进度 |
起草 征求意见 审查 批准 发布 |
| 基础信息 | 计划号：20204665-T-491 |
| 制修订：制定 | |
| 项目周期： 36个月 | |
| 下达日期：2020-12-24 | |
| 标准类型：方法 | |
| 中国标准分类号：17.040.20 | |
| 国际标准分类号：A42 | |
| 组织起草部门：国家标准化管理委员会 | |
| 技术委员会：全国纳米技术标准化技术委员会 | |
| 起草单位 | 苏州纳微科技有限公司、苏州市计量测试院、苏州大学、中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所、中国检验检疫科学研究院、江苏菲沃泰纳米科技股份有限公司 |
| 采标情况 | |
