购物车
400-168-0010
本标准阅读由平台提供
即将离开本页面去往平台，确定前往？
提示：
Requirements of IC wafer level reliability experiment and design
| 介绍 | 国家标准计划《集成电路晶圆可靠性评价要求》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。拟实施日期：发布后6个月正式实施 |
| 项目进度 |
起草 征求意见 审查 批准 发布 |
| 基础信息 | 计划号：20192066-T-339 |
| 制修订：制定 | |
| 项目周期： 24个月 | |
| 下达日期：2019-07-12 | |
| 标准类型：基础 | |
| 中国标准分类号：31.200 | |
| 国际标准分类号：L56 | |
| 组织起草部门：国家标准化管理委员会 | |
| 技术委员会：全国集成电路标准化技术委员会 | |
| 起草单位 | 中国电子科技集团公司第五十五研究所、中国电子技术标准化研究院、三安集成电路有限公司 |
| 采标情况 | |
