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GB 4943.21-2019 信息技术设备 安全 第21部分:远程馈电 现行 发布日期 :  2019-12-31 实施日期 :  2020-07-01

GB 4943的本部分规定了远程馈电通信电路的安全要求。
本部分适用于预定向通信网络供电和接收通信网络供电,并且该电压超过TNV电路限值的信息技术设备。

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GB/T 7962.21-2019 无色光学玻璃测试方法 第21部分:耐碱稳定性 现行 发布日期 :  2019-08-30 实施日期 :  2020-03-01

GB/T 7962的本部分规定了无色光学玻璃耐碱稳定性测试方法的原理、测试步骤、数据处理和分级等。
本部分适用于无色光学玻璃,其他类玻璃可参照使用。

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GB/T 4937.21-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第21部分:可焊性 现行 发布日期 :  2018-09-17 实施日期 :  2019-01-01

GB/T 4937的本部分规定了采用铅锡焊料或无铅焊料进行焊接的元器件封装引出端的可焊性试验程序。
本试验方法规定了通孔、轴向和表面安装器件(SMDs)的“浸入和观察”可焊性试验程序,以及可选的SMDs板级安装可焊性试验程序,用于模拟在元器件使用时采用的焊接过程。本试验方法也规定了老化条件,该条件为可选。
除有关文件另有规定外,本试验属于破坏性试验。

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GB/T 25000的本部分包含下列信息:
——将QME定义为产品质量需求规格说明(带示例)的组成部分的相关要求(见6.2 表1和表2);
注:产品质量包括系统质量、软件产品质量、数据质量和最终的系统服务质量。
——作为示例的初始QME集(参见表A.1);
——定义并量化作为QME的产品(目标实体)属性的指南(参见附录B)。
本部分旨在供(但不限于)开发方、需方、产品的独立评价方使用,特别是面向负责定义产品质量需求和产品评价的责任人。当定义拟用来获取质量测度(例如GB/T 25000.22、GB/T 25000.23、GB/T 25000.24中所规定的质量测度)相关的QME时,本部分是适用的。

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GB/T 16656的本部分规定了产品数据[用EXPRESS语言 (GB/T 16656.11) 为其规定了概念模型]的纯正文编码交换文件结构的格式。该文件格式适用于计算机系统间产品数据的传输。 本部分规定了从EXPRESS语言到交换结构语言语法的映射。任何EXPRESS图解都能映射到交换结构系统。

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本文件描述了测量绝缘和静电耗散材料及产品的静电荷消散能力的试验方法。本文件包含试验方法概述和特定用品的详细试验程序。测量电荷衰减时间的试验方法有两种,一种为电晕充电法,另一种为带电金属板法。虽然这两种不同的试验方法可能得到不同的测量结果,但它们有各自最适合的应用范围。电晕充电法适用于评估材料(例如:纺织品、包装等)从其自身表面消散电荷的能力;带电金属板法适用于评估材料和物品(例如:手套、指套、手持工具等)通过放置在导电体上或接触导电体消散电荷的能力。带电金属板法可能不适用于评估材料从其自身表面消散电荷的能力。

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GB/T 22181.21-2008 等离子体显示器件 第2-1部分:光学参数测量方法 废止 发布日期 :  2008-06-28 实施日期 :  2008-11-01

本部分规定了彩色等离子体显示模块显示特性的测量方法。
本部分适用于下列5个项目的测量:
a) 4%窗口亮度;
b) 亮度均匀性;
c) 暗室对比度;
d) 白色色度及色度均匀性;
e) 色域。

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GB/T 17626.21-2014 电磁兼容 试验和测量技术 混波室试验方法 现行 发布日期 :  2014-12-22 实施日期 :  2015-06-01

GB/T 17626的本部分考虑在混波室中的电气和/或电子设备的抗扰度试验、有意或无意辐射发射试验和屏蔽效能试验。本部分建立了实施这些试验所需的试验程序。本部分仅考虑辐射现象。
本部分的目的是建立一个使用混波室评估电气和/或电子设备在射频电磁场中的性能和确定电气电子设备的辐射发射等级的通用规范。

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本部分等同采用IEC 61747-2-1:1998(QC 720301)《液晶和固态显示器件 第2-1部分:无源矩阵单色液晶显示模块 空白详细规范》(英文版)。

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GB/T 3789.21-1991 发射管电性能测试方法 静态特性参考点的测试方法 被代替 发布日期 :  1991-08-15 实施日期 :  1992-04-01

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IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC章程并在IEC授权下工作。该体系的目的是确定质量评定程序,以这种方式使一个参加国家按有关规范要求放行的电子元器件无需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。
编制详细规范时,将总规范中3.5和分规范中2.3和3.2的内容考虑进去。

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《半导体器件 集成电路》的本部分适用于作为目录内电路或定制电路而制造的、其质量是以鉴定批准为基础评定的膜集成电路和混合膜集成电路。
本部分的目的是为额定值和特性提供优先值,从总规范中选择合适的试验和测量方法,并且给出根据本部分制定的膜集成电路和混合膜集成电路详细规范使用的通用性能要求。
优先值的概念直接应用于目录内电路,但是不必应用于定制电路。
参照本部分制定的详细规范所规定的试验严酷等级和要求可等于或高于分规范的性能水平,不准许有更低的性能水平。
同本部分相联系的有一个或多个空白详细规范,每个空白详细规范均给以编号。按照2.3规定填写空白详细规范,即构成一个详细规范。按IECQ体系的规定,该类详细规范可用于膜集成电路和混合膜集成电路鉴定批准的授与和质量一致性检验。

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