本标准规定了在多种两相体系中通过分析颗粒的光散射特性来进行粒度分布测量的粒度分析方法,这些颗粒包括粉末、喷雾、气溶胶、悬浮液、乳剂和液体中的气泡等。本标准适用于粒径范围为0.1 μm~3 mm颗粒的粒度分布测量,适用于相关仪器的性能评价。采用一些特殊设计的仪器和一些辅助条件可使粒度分布范围扩展至0.1 μm以下或3 mm以上。该项技术在光学模型中假设颗粒为球形,因此对于非球形颗粒,所报告的粒度分布是根据球形颗粒散射图样体积和的理论值与实测的散射图样值相匹配得到,粒度分布结果可能与基于其他物理原理如沉降、筛分等方法测量得到的结果有所不同。
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本标准规定了中子衍射测量多晶材料残余应力的方法。本标准适用于均匀和非均匀材料以及含不同晶相的块状样品检测。
本标准简要介绍了中子衍射技术的原理,测量不同种类材料时对应采用的衍射晶面给出了建议,为如何选择与被测材料晶粒尺寸和应力状态有关的测量方向和待测体积提供了指导。
本标准描述了准确定位和校正中子束内检测部位的过程,目的是在测量时能够准确定义样品材料的取样体积。
本标准描述了标定中子衍射装置需要注意的问题,介绍了获取无应力参考值的技术方法。
本标准详细描述了中子衍射测量各种弹性应变的方法,阐明了结果分析和确定统计相关性的过程,对如何从应变数据获得可靠的残余(或外施)应力,以及如何评价结果的不确定度提出了建议。
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