本文件描述了表述X射线光电子能谱仪特定性能参数的方法。

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本文件规定了满足检测要求以期获得满意、经济、重复性好的检测结果的胶片和数字射线照相检测的基本技术。本文件规定的技术以检测基本理论和试验为基础。本文件适用于钢管服役过程中引起的点状腐蚀、面状腐蚀和侵蚀等缺陷的射线检测。本文件中使用的“管”除其常规含义外，也包括其他圆筒形物体，如小口径管、压力管、锅炉汽包和压力容器。本文件规定的检测技术适用于腐蚀/侵蚀类缺陷的焊缝检测，不适用于焊接过程产生典型缺陷的检测。本文件描述了可能由腐蚀或侵蚀造成的管道内部或外部材料损失的评价方法。管道可能含或不含保温层。本文件规定了检测壁厚损失的双壁检测技术，包括双壁单影技术（DWSI)和双壁双影技术（DWDI)。〓〓注：  本文件中描述的DWDI通常和ISO 207691确定的切向射线照相技术联合使用。本文件适用于使用工业胶片射线照相、计算机射线照相（CR)和数字阵列探测器（DDA)的在役双壁射线检测技术。

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本文件规定了满足检测要求以期获得满意、经济、重复性好的检测结果的胶片和数字射线照相检测的基本技术。本文件规定的技术以检测基本理论和试验为基础。本文件适用于钢管服役过程中引起的点状腐蚀、面状腐蚀和侵蚀等缺陷的射线检测。本文件中使用的“管”除其常规含义外，也包括其他圆筒形物体，如小口径管、压力管、锅炉汽包和压力容器。本文件规定的检测技术适用于腐蚀/侵蚀类缺陷的焊缝检测，不适用于焊接过程产生典型缺陷的检测。本文件描述了可能由腐蚀或侵蚀造成的管道内部或外部材料损失的评价方法。管道可能含或不含保温层。本文件规定了探测和测量壁厚方向厚度损失的切向检测技术，包括以下射线源布置:a）〓在管道中心线上；和 b）〓在管径方向上偏离中心线。ISO 207692规定了双壁射线检测技术。双壁双影技术通常和源在管道中心线上的切向射线技术联合使用。本文件适用于使用工业胶片射线照相、计算机射线照相（CR）和数字阵列探测器（DDA）的切向射线检测技术。

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本文件描述了用X射线光电子能谱技术(XPS)测定石墨烯粉体中氧元素含量(原子分数)和碳氧比的方法。本文件适用于石墨烯粉体、石墨烯浆料，其他碳基纳米材料的测定参照执行。

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本文件描述了伽马射线扫描法用于工业中工艺塔的故障排除和检测的无损检测方法。本文件适用于各种分离过程的工艺塔和管道的检测。这包括具有不同托盘结构和填充层的塔。

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本文件规定了数字射线检测图像处理与通信的总体要求、信息对象和信息模块的属性。
本文件适用于射线数字成像检测和计算机射线照相检测图像处理与通信。

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本文件适用于乳腺摄影X射线设备在乳腺X摄影断层合成模式下影像质量和剂量相关的性能。
本文件不适用于以下情况： 
——乳腺摄影X射线设备的乳腺X摄影断层合成模式以外的其他运行模式；
——由断层合成图像生成的2D图像；
——乳腺X射线断层合成以外的重建体层摄影；
——GB/T 19042.5范围中所涵盖的CT扫描装置。

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本文件描述了X射线荧光光谱法测定玻璃纤维及其原料中化学元素的方法。
本文件适用于各类玻璃纤维、纤维玻璃及其原料和配合料、各类矿物棉及其原料化学元素的测定，也适用于化学元素组成类似的其他玻璃和矿物原料化学元素的测定。

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本文件描述了采用波长色散X射线荧光光谱法（熔铸玻璃片法）测定锰铁、锰硅合金、氮化锰铁和金属锰中锰、硅、铁、磷的含量的方法。本文件适用于锰铁、锰硅合金、氮化锰铁和金属锰中锰、硅、铁、磷含量的测定，各元素测定范围见表1。

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本文件描述了能量色散 X 射线荧光光谱法筛选分析玩具塑料中锑、砷、钡、镉、铬、铅、汞、硒8种元素的筛选方法及程序。本文件适用于玩具塑料中锑、砷、钡、镉、铬、铅、汞、硒可迁移元素的筛选，以及玩具塑料中总量元素的筛选。

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本文件描述了利用X射线衍射仪测试半导体材料双晶摇摆曲线半高宽，进而评价半导体单晶晶体质量的方法。本文件适用于碳化硅、金刚石、氧化镓等单晶材料晶体质量的测试，硅、砷化镓、磷化铟等半导体材料晶体质量的测试也可参照本文件执行。

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本文件规定了采用波长色散X射线荧光光谱法(钴内标法)测定全铁、硅、铝、钙、镁、锰、钛、钒、磷、铜、铅、铬、锌、砷、钾和硫含量的方法。
本文件适用于铁矿石、铁精矿、烧结矿及球团矿中下列各元素的测定，测定范围见表1。

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本文件提供了铁矿石X射线荧光光谱分析实验室(以下简称“实验室”)操作指南。
本文件适用于实验室的质量控制。

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本文件界定了医用X射线管的术语和定义,规定了医用X射线管要求及试验方法。本文件适用于医用X射线管。注： 该产品作为医用X射线设备的射线源，装配在用油作为绝缘和冷却介质的管套内(X射线管组件),供医用X射线设备配套使用。

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本文件描述了一组能被应用于波长色散X射线荧光光谱仪(以下简称“光谱仪”)的试验方法，以确保光谱仪能够进行精确的分析。
本文件适用于测量与光谱仪某些部件操作相关的误差。设计这些试验方法并非用于检查光谱仪的每个部件，仅为了检查那些可能带来常见误差源的部件。
注： 当没有差异性说明时，意味着某项测试对于顺序式和多道式光谱仪均适用。

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