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GB/T 37977.49-2023 电学 第4-9部分:特定应用中的标准试验方法 服装 现行 发布日期 :  2023-12-28 实施日期 :  2024-04-01

本文件提供了防静电服装的电阻测试方法,这些方法适用于评价均匀导静电或均匀耗散静电的服装,或采用表面导静电或表面耗散静电的组件或部件的服装。
注:  本文件规定的测试方法可能不适用于预埋导电层的服装。点对点电阻测试方法是测试服装上的两个袖口之间、任意两个片之间、任意两个或多个电气连接部件之间的电阻,包括服装接缝和袖口的电阻(适用情况下)。允许使用夹子将衣服悬挂起来进行袖对袖电阻测试方法。点对点电阻、点对接地点电阻和系统测试作为评判与穿着者进行电气连接并为其提供接地路径的静电防护服装性能的方法。其中系统测试是检测穿着者通过服装对接地点的电阻。对穿着者与可接地防静电服装作为一个整体系统进行系统测试时,需测试服装接地线。注: 附录A提供了一些服务类型和推荐电阻值。

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本文件根据IEC 6134053的要求描述了评估静电放电屏蔽袋性能的试验方法,试验装置的设定电压为直流1 000 V。本试验方法同样适用于除屏蔽袋以外的其他柔性包装。本文件的目的是确保检测实验室对给定的包装材料进行试验能得到相近的结果。本文件不适用于电磁干扰(EMI)、射频干扰(RFI)、电磁脉冲(EMP)或挥发性物质的屏蔽防护。

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GB/T 37977.51-2023 电学 第5-1部分:电子器件的静电防护 通用要求 现行 发布日期 :  2023-08-06 实施日期 :  2024-03-01

本文件规定了ESD控制程序的要求,IEC TR 6134052提供了相关的实施指南。本文件适用于对静电敏感度不低于人体模型(HBM)100 V、带电器件模型(CDM )200 V和孤立导体35 V的电气、电子元件、组件和设备进行的制造、加工、组装、安装、包装、标识、服务、测试、检验、运输以及其他生产活动。处理具有更低静电敏感电压阈值的静电放电敏感产品时,可根据需要增加控制要素或调整限值,仍可视为符合本文件的要求。本文件不适用于电引爆设备、易燃液体、气体和粉体。本文件的目的是为建立、实施和维护ESD控制程序(以下简称“程序”)提供管理和技术要求。注: 孤立导体曾用机器模型(MM)表示。

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本文件描述了测量绝缘和静电耗散材料及产品的静电荷消散能力的试验方法。本文件包含试验方法概述和特定用品的详细试验程序。测量电荷衰减时间的试验方法有两种,一种为电晕充电法,另一种为带电金属板法。虽然这两种不同的试验方法可能得到不同的测量结果,但它们有各自最适合的应用范围。电晕充电法适用于评估材料(例如:纺织品、包装等)从其自身表面消散电荷的能力;带电金属板法适用于评估材料和物品(例如:手套、指套、手持工具等)通过放置在导电体上或接触导电体消散电荷的能力。带电金属板法可能不适用于评估材料从其自身表面消散电荷的能力。

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GB/T 37826-2019 航空电加温玻璃电学性能试验方法 现行 发布日期 :  2019-08-30 实施日期 :  2020-07-01

本标准规定了航空电加温玻璃的术语和定义、环境条件、加温器电阻、热敏电阻阻值、绝缘电阻、加热功率、单位面积功率、加温均匀性、耐电热性、耐过电压性、耐电热冲击性等电学性能的试验方法。
本标准适用于航空电加温玻璃及同类产品。

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GB/T 37977的本部分规定了用于避免静电电荷累积的固体平面材料的电阻和电阻率的测试方法,测试电阻的适用范围从104 Ω到1012 Ω。

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GB/T 37977的本部分规定了用于模拟机器模型(MM)的静电放电(ESD)电流波形和用于产生和验证这些波形的设备的基本要求。
本部分适用于在一般试验方法中所用的,以及在材料、电子元器件、组件或产品的ESD敏感度试验或性能评估试验中使用的MM ESD电流波形。这些MM ESD电流波形在不通电半导体器件中的特定应用由IEC 60749-27规定。

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GB/T 35010.5-2018 半导体芯片产品 第5部分:电学仿真要求 现行 发布日期 :  2018-03-15 实施日期 :  2018-08-01

GB/T 35010的本部分用于指导半导体芯片产品的生产、供应和使用,半导体芯片产品包括:●〓晶圆;●〓单个裸芯片;●〓带有互连结构的芯片和晶圆;●〓最小或部分封装的芯片和晶圆。本部分规定了所需的电仿真信息,目的在于促进电子数据、电子系统电学行为和功能验证仿真模型的使用。电子系统包括带或不带互连结构的半导体裸芯片,和(或)最小封装的半导体芯片。本部分是为了使芯片产品供应链中所有的环节都满足IEC 622581和IEC 622582的要求。

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本标准规定了如何利用失效率数据进行电子设备中的电子元器件可靠性预计。
基准条件是在大量应用中所观测到的元器件应力典型值。基准条件之所以有用是因为它可通过采用考虑真实工作条件的应力模型计算出任何条件下的失效率。在早期设计阶段基准条件下的失效率允许用于实际的可靠性预计。
本标准描述的应力模型是通用模型可在需要时作为基准条件下失效率数据转换为真实工作条件下失效率的基础这简化了预计方法失效率数据的转换只允许在元器件规定的功能使用限制范围内进行。
本标准还就如何构建元器件失效率数据库以提供可用于本标准应力模型的失效率提供了指南。指定失效率数据的基准条件是为了使不同来源的数据可以在同一基准上进行比较。如果失效率数据依照本标准给出则不需要附加特定条件的信息。
本标准不提供元器件的基本失效率而是提供模型把通过其他方式获得的失效率由一种工作条件转换到另一工作条件下的失效率。
本标准描述的预计方法都假定元器件是在使用寿命期内使用的。本标准方法有通用性但明确适用于第6章和附录E.2中给出的元器件类型。

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本标准规定了纳米尺度相变存储单元读写擦参数的晶圆测试规范,其测试结果可用于表征相变存储材料或器件的电学可操作性能。本标准适用于以硫系化合物为主要原料,基于半导体晶圆工艺加工制造的电极尺度小于100 nm的相变存储单元,100 nm~300 nm的相变存储单元也可参照本标准执行。本标准不适用于包含外围驱动电路的存储单元。

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GB/T 3102.5-1993 电学和磁学的量和单位 现行 发布日期 :  1993-12-27 实施日期 :  1994-07-01

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DB34/T 3770-2020 用于超导磁体系统的复合材料绝缘子电学测试测试方法 现行 发布日期 :  2020-11-27 实施日期 :  2020-12-27

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JJF 1023-1991 常用电学计量名词术语(试行) 现行 发布日期 :  1991-03-04 实施日期 :  1991-12-01

本《术语》重点给出电学计量中比较常用的、且容易混淆的名词术语及定义。除此之外的有关术语,如电学计量方面一般性的以及使用中业已统一的术语,原则上均不列入。

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SJ/T 11628-2016 太阳能电池用硅片尺寸及电学表征在线测试方法 现行 发布日期 :  2016-04-05 实施日期 :  2016-09-01

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SJ/T 11499-2015 碳化硅单晶电学性能的测试方法 现行 发布日期 :  2015-04-30 实施日期 :  2015-10-01

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