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【国家标准】 半导体器件　机械和气候试验方法　第24部分：加速耐湿　无偏置强加速应力试验

本网站 发布时间： 2026-01-19
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适用范围：

本文件用于评价非气密封装固态器件在潮湿环境下的可靠性。
本方法为强加速试验，是在没有冷凝的条件下通过温度和湿度加速潮气穿透外部保护材料（包封或密封)或外部保护材料和金属导体的交接面。本方法不施加偏置，以确保潜在的失效机理不能由偏置造成（例如电化学腐蚀)。
本试验用于确定封装内部的失效机理，是一种破坏性试验。
注：本方法是对1996年版IEC 60749中第3章的4c条的试验重新编写（无偏置电压)。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 4937.24-2025

  • 标准名称：

    半导体器件　机械和气候试验方法　第24部分：加速耐湿　无偏置强加速应力试验

  • 英文名称：

    Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 24:Accelerated moisture resistance—Unbiased HAST

  • 标准状态：

    即将实施

  • 发布日期：

    2025-12-02

  • 实施日期：

    2026-07-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    31.080.01

  • 中标分类号：

    L40

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

    《半导体器件　机械和气候试验方法　第24部分:加速耐湿　无偏HAST》 IDT 等同采用

出版信息

  • 页数：

    16 页

  • 字数：

    17 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    包雷、佘茜玮、吴维丽、王瑞曾、陈雷、胡宁

  • 起草单位：

    中国电子科技集团公司第五十五研究所

  • 归口单位：

    全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)

  • 提出部门：

    中华人民共和国工业和信息化部

  • 发布部门：

    国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
  • 其它标准
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