智能计算忆阻器测试方法第3部分：脉冲依赖可塑性-Intelligent computing — Test method for memristor devices — Part 3：Spike dependent plasticity-中国标准在线服务网

Intelligent computing — Test method for memristor devices — Part 3：Spike dependent plasticity

制定

介绍	国家标准计划《智能计算忆阻器测试方法第3部分：脉冲依赖可塑性》由SWG32（全国智能计算标准化工作组）归口，主管部门为国家标准委
项目进度	起草征求意见审查批准发布
基础信息	计划号：20253308-T-469
	制修订：制定
	项目周期： 18个月
	下达日期：2025-08-06
	标准类型：方法
	中国标准分类号：31.080.99
	国际标准分类号：
	组织起草部门：国家标准化管理委员会
	技术委员会：全国智能计算标准化工作组
起草单位	复旦大学、之江实验室、中国科学院微电子研究所、清华大学、北京大学、浪潮电子信息产业股份有限公司、上海复旦微电子集团股份有限公司、苏州慧敏迅智控科技有限公司、中国信息通信研究院等
采标情况
采标情况