电子学特性测量大面积超导膜的局域临界电流密度及其分布-Electronic characteristic measurements—Local critical current density and its distribution in large-area superconducting films-中国标准在线服务网

Electronic characteristic measurements—Local critical current density and its distribution in large-area superconducting films

制定

介绍	国家标准计划《电子学特性测量大面积超导膜的局域临界电流密度及其分布》由TC265（全国超导标准化技术委员会）归口，主管部门为中国科学院。拟实施日期：发布后6个月正式实施
项目进度	起草征求意见审查批准发布
基础信息	计划号：20153871-T-491
	制修订：制定
	项目周期： 48个月
	下达日期：2016-01-04
	标准类型：方法
	中国标准分类号：17.220.20,29.050
	国际标准分类号：K10
	组织起草部门：国家标准化管理委员会
	技术委员会：全国超导标准化技术委员会
起草单位	上海大学、电子科技大学、上海上创超导科技有限公司、中国科学院物理研究所
采标情况	本标准等同采用IEC国际标准：IEC 61788-17:2013
采标情况	采标中文名称:超导电性第17部分：电子学特性测量大面积超导膜的局域临界电流密度及其分布