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提示：
Practice for evaluation of polocrystalline silicon rods by float-zone crystal growth and spectroscopy
| 介绍 | 国家标准计划《用区熔拉晶法和光谱分析法评价多晶硅棒的规程》由TC203（全国半导体设备和材料标准化技术委员会）归口，TC203SC2（全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会 |
| 项目进度 |
起草 征求意见 审查 批准 发布 |
| 基础信息 | 计划号：20081144-T-469 |
| 制修订：制定 | |
| 项目周期： 36个月 | |
| 下达日期：2008-11-03 | |
| 标准类型：方法 | |
| 中国标准分类号：29.045 | |
| 国际标准分类号：H80 | |
| 组织起草部门：国家标准化管理委员会 | |
| 技术委员会：全国半导体设备和材料标准化技术委员会 | |
| 起草单位 | 四川新光硅业科技有限责任公司、乐山乐电天威硅业科技有限责任公司、天威四川硅业有限责任公司 |
| 采标情况 | 本标准修改采用其他国际标准：SEMI MF1723-1104 |
| 采标中文名称:用区熔拉晶法和光谱分析法评价多晶硅棒的规程 |
