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Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method of determination for apparent growth direction of wirelike crystals by transmission electron microscopy
| 介绍 | 国家标准计划《微束分析分析电子显微术线状晶体表观生长方向的透射电子显微术测定方法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。拟实施日期：发布后6个月正式实施 |
| 项目进度 |
起草 征求意见 审查 批准 发布 |
| 基础信息 | 计划号：20220738-T-469 |
| 制修订：制定 | |
| 项目周期： 12个月 | |
| 下达日期：2022-07-19 | |
| 标准类型：方法 | |
| 中国标准分类号：71.040.50 | |
| 国际标准分类号：N33 | |
| 组织起草部门：国家标准化管理委员会 | |
| 技术委员会：全国微束分析标准化技术委员会 | |
| 起草单位 | 北京科技大学 |
| 采标情况 | 本标准修改采用ISO国际标准：ISO 19214:2017 |
| 采标中文名称:微束分析 分析电子显微术 线状晶体表观生长方向的透射电子显微术测定方法 |
