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提示：
Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials
| 介绍 | 国家标准计划《微束分析分析电子显微术层状材料截面像中界面位置的确定方法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。拟实施日期：发布后6个月正式实施 |
| 项目进度 |
起草 征求意见 审查 批准 发布 |
| 基础信息 | 计划号：20214163-T-469 |
| 制修订：制定 | |
| 项目周期： 18个月 | |
| 下达日期：2021-10-13 | |
| 标准类型：方法 | |
| 中国标准分类号：71.040.50 | |
| 国际标准分类号：N33 | |
| 组织起草部门：国家标准化管理委员会 | |
| 技术委员会：全国微束分析标准化技术委员会 | |
| 起草单位 | 北京科技大学 |
| 采标情况 | 本标准修改采用ISO国际标准：ISO 20263:2017 |
| 采标中文名称:微束分析 分析电子显微术 层状材料截面像中界面位置的确定方法 |
