微束分析分析电子显微术金属薄晶体试样中位错密度的测定方法-Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Measurement of the dislocation density in thin metals-中国标准在线服务网

Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Measurement of the dislocation density in thin metals

制定

介绍	国家标准计划《微束分析分析电子显微术金属薄晶体试样中位错密度的测定方法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。拟实施日期：发布后6个月正式实施
项目进度	起草征求意见审查批准发布
基础信息	计划号：20214165-T-469
	制修订：制定
	项目周期： 24个月
	下达日期：2021-10-13
	标准类型：方法
	中国标准分类号：71.040.50
	国际标准分类号：G04
	组织起草部门：国家标准化管理委员会
	技术委员会：全国微束分析标准化技术委员会
起草单位	首钢集团有限公司、国标（北京）检验认证有限公司
采标情况
采标情况