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提示：
Semiconductor devices – Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs)
| 介绍 | 国家标准计划《半导体器件金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFETs）的可动离子试验》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。拟实施日期：发布后3个月正式实施 |
| 项目进度 |
起草 征求意见 审查 批准 发布 |
| 基础信息 | 计划号：20213176-T-339 |
| 制修订：制定 | |
| 项目周期： 18个月 | |
| 下达日期：2021-08-24 | |
| 标准类型：方法 | |
| 中国标准分类号：31.080.01 | |
| 国际标准分类号：L40 | |
| 组织起草部门：国家标准化管理委员会 | |
| 技术委员会：全国半导体器件标准化技术委员会 | |
| 起草单位 | 中国电子科技集团公司第十三研究所、河北北芯半导体科技有限公司、安徽华祯光电有限公司、佛山市川东磁电股份有限公司、厦门芯阳科技股份有限公司、河北新华北集成电路有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、上海维安半导体有限公司、浙江朗德电子科技有限公司、重庆平伟实业股份有限公司、无锡新洁能股份有限公司、江苏长晶科技股份有限公司 |
| 采标情况 | 本标准等同采用IEC国际标准：IEC 62417:2010 |
| 采标中文名称:半导体器件 金属氧化物半导体场效应晶体管（MOSFETs）的自由离子试验 |
