Test method for surface quality and micropipe density of polished silicon carbide wafers—Confocal and differential interferometry optics
介绍 | 国家标准计划《碳化硅抛光片表面质量和微管密度的测试共焦点微分干涉法》由TC203(全国半导体设备和材料标准化技术委员会)归口,TC203SC2(全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分会)执行,主管部门为国家标准化管理委员会。拟实施日期:发布后6个月正式实施 |
项目进度 |
起草 征求意见 审查 批准 发布 |
基础信息 | 计划号:20210888-T-469 |
制修订:制定 | |
项目周期: 24个月 | |
下达日期:2021-04-30 | |
标准类型:方法 | |
中国标准分类号:77.040 | |
国际标准分类号:H21 | |
组织起草部门:国家标准化管理委员会 | |
技术委员会:全国半导体设备和材料标准化技术委员会 | |
起草单位 | 中国电子科技集团公司第四十六研究所、山东天岳先进科技股份有限公司、常州臻晶半导体有限公司、湖州东尼半导体科技有限公司、厦门坤锦电子科技有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所、广东天域半导体股份有限公司、有色金属技术经济研究院有限责任公司、中国科学院半导体研究所、TCL环鑫半导体(天津)有限公司、浙江东尼电子股份有限公司 |
采标情况 | |