表面化学分析扫描探针显微术采用扫描探针显微镜测定几何量：测量系统校准-Surface chemical analysis—Scanning probe microscopy—Determination of geometric quantities using SPM: Calibration of measuring systems-中国标准在线服务网

Surface chemical analysis—Scanning probe microscopy—Determination of geometric quantities using SPM: Calibration of measuring systems

制定

介绍	国家标准计划《表面化学分析扫描探针显微术采用扫描探针显微镜测定几何量：测量系统校准》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，TC38SC2（全国微束分析标准化技术委员会表面化学分析分会）执行，主管部门为国家标准化管理委员会。拟实施日期：发布后6个月正式实施
项目进度	起草征求意见审查批准发布
基础信息	计划号：20210878-T-469
	制修订：制定
	项目周期： 18个月
	下达日期：2021-04-30
	标准类型：方法
	中国标准分类号：71.040.40
	国际标准分类号：G04
	组织起草部门：国家标准化管理委员会
	技术委员会：全国微束分析标准化技术委员会
起草单位	中国计量科学研究院、上海市计量测试技术研究院、西安交通大学
采标情况	本标准等同采用ISO国际标准：ISO 11952:2019
采标情况	采标中文名称:表面化学分析扫描探针显微术采用扫描探针显微镜测定几何量：测量系统校准