购物车
400-168-0010
本标准阅读由平台提供
即将离开本页面去往平台，确定前往？
提示：
Semiconductor Devices-Mechanical and Climatic Test Methods–Part 40: Board level drop test method using a strain gauge
| 介绍 | 国家标准计划《半导体器件机械和气候试验方法第40部分：采用应变仪的板级跌落试验方法》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。拟实施日期：发布后3个月正式实施 |
| 项目进度 |
起草 征求意见 审查 批准 发布 |
| 基础信息 | 计划号：20204847-T-339 |
| 制修订：制定 | |
| 项目周期： 18个月 | |
| 下达日期：2020-12-24 | |
| 标准类型：方法 | |
| 中国标准分类号：31.080.01 | |
| 国际标准分类号：L40 | |
| 组织起草部门：国家标准化管理委员会 | |
| 技术委员会：全国半导体器件标准化技术委员会 | |
| 起草单位 | 中国电子科技集团公司第十三研究所、河北工诺检测技术有限公司、深圳市金泰克半导体有限公司、合肥德宽信息技术有限责任公司、广州海关技术中心、安徽高芯众科半导体有限公司、湖北华远检测技术有限公司 |
| 采标情况 | 本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60749-40:2011 |
| 采标中文名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第40部分：采用应变仪的板级跌落试验方法 |
