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Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 20: Generic specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits—Section 1: Requirements for internal visual examination
| 介绍 | 国家标准计划《半导体器件集成电路第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范第一篇：内部目检要求》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。拟实施日期：发布即实施 |
| 项目进度 |
起草 征求意见 审查 批准 发布 |
| 基础信息 | 计划号：20193132-T-339 |
| 制修订：制定 | |
| 项目周期： 18个月 | |
| 下达日期：2019-10-24 | |
| 标准类型：方法 | |
| 中国标准分类号：31.200 | |
| 国际标准分类号：L57 | |
| 组织起草部门：国家标准化管理委员会 | |
| 技术委员会：全国集成电路标准化技术委员会 | |
| 起草单位 | 中国电子科技集团公司第四十三研究所、中国电子技术标准化研究院 |
| 采标情况 | 本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60748-20-1:1994 |
| 采标中文名称:半导体器件 集成电路 第20 部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇：内部目检要求 |
