光学元件表面疵病定量检测方法显微散射暗场成像法-Methodology for the quantitative inspection of the defect on optics surface—Microscopic scattering dark-field imaging-中国标准在线服务网

介绍	国家标准计划《光学元件表面疵病定量检测方法显微散射暗场成像法》由TC103（全国光学和光子学标准化技术委员会）归口，TC103SC5（全国光学和光子学标准化技术委员会光学材料和元件分会）执行，主管部门为中国兵器工业集团公司。拟实施日期：发布后6个月正式实施
项目进度	起草征求意见审查批准发布
基础信息	计划号：20203597-T-518
	制修订：制定
	项目周期： 12个月
	下达日期：2020-11-19
	标准类型：方法
	中国标准分类号：81.040.01
	国际标准分类号：N05
	组织起草部门：国家标准化管理委员会
	技术委员会：全国光学和光子学标准化技术委员会
起草单位	浙江大学、杭州晶耐科光电技术有限公司、中国科学院大连化学物理研究所、中国工程物理研究院激光聚变研究中心、中国科学院上海光学精密机械研究所、中国兵器工业标准化研究所、江苏皇冠新材料科技有限公司、福建福特科光电股份有限公司
采标情况
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