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Semiconductor devices—Scan based ageing level estimation for semiconductor devices
| 介绍 | 国家标准计划《半导体器件基于扫描的半导体器件退化水平评估》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。拟实施日期：发布后6个月正式实施 |
| 项目进度 |
起草 征求意见 审查 批准 发布 |
| 基础信息 | 计划号：20221733-Z-339 |
| 制修订：制定 | |
| 项目周期： 16个月 | |
| 下达日期：2022-12-30 | |
| 标准类型：方法 | |
| 中国标准分类号：31.080.01 | |
| 国际标准分类号：L40 | |
| 组织起草部门：国家标准化管理委员会 | |
| 技术委员会：全国半导体器件标准化技术委员会 | |
| 起草单位 | 中国电子科技集团公司第五十八研究所、无锡中微腾芯电子有限公司、中国电子技术标准化研究院、工业和信息化部电子第五研究所、北京智芯微电子科技有限公司、西安卫光科技有限公司、无锡市晶源微电子股份有限公司 |
| 采标情况 | 本标准等同采用IEC国际标准：IEC TR 63133:2017 |
| 采标中文名称:半导体器件 基于扫描监控技术的半导体器件退化水平评估方法 |
