半导体器件机械和气候试验方法第36部分：稳态加速度-Semiconductor devices-Mechanical and climatic test methods-part 36:Acceleration，steady state-中国标准在线服务网

介绍	国家标准计划《半导体器件机械和气候试验方法第36部分：稳态加速度》由TC78（全国半导体器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。拟实施日期：发布后3个月正式实施
项目进度	起草征求意见审查批准发布
基础信息	计划号：20201541-T-339
	制修订：制定
	项目周期： 24个月
	下达日期：2020-04-01
	标准类型：方法
	中国标准分类号：31.080.01
	国际标准分类号：L40
	组织起草部门：国家标准化管理委员会
	技术委员会：全国半导体器件标准化技术委员会
起草单位	中国电子科技集团公司第五十五研究所、广州盟标质量检测技术服务有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、佛山市蓝箭电子股份有限公司、广东瑞谷光网通信股份有限公司、广微（中山）智能科技有限公司
采标情况	本标准等同采用IEC国际标准：IEC60749.36:2013
采标情况	采标中文名称:半导体器件-机械和气候试验方法-第36部分：稳态加速度