我的标准
购物车
400-168-0010
本标准阅读由平台提供
即将离开本页面去往平台，确定前往？
提示：
The coctivation analysis method for the determinatian of elemental impurities in semiconductor silicon materials
| 介绍 | 国家标准计划《半导体硅材料中杂质元素的活化分析方法》由610（中国有色金属工业协会）归口，主管部门为中国有色金属工业协会 |
| 项目进度 |
起草 征求意见 审查 批准 发布 |
| 基础信息 | 计划号：20031804-T-610 |
| 制修订：修订 | |
| 项目周期： | |
| 下达日期： | |
| 标准类型：方法 | |
| 中国标准分类号： | |
| 国际标准分类号： | |
| 组织起草部门：国家标准化管理委员会 | |
| 技术委员会：中国有色金属工业协会 | |
| 起草单位 | 国家有色金属及电子材料分析测试中心(北京有色金属研究总院) |
| 采标情况 | |
