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提示：
Microbeam analysis—Method of thickness measurement for thin crystals by convergent beam electron diffraction
| 介绍 | 国家标准计划《微束分析薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法》由TC38（全国微束分析标准化技术委员会）归口，主管部门为国家标准化管理委员会。拟实施日期：发布后6个月正式实施 |
| 项目进度 |
起草 征求意见 审查 批准 发布 |
| 基础信息 | 计划号：20194209-T-469 |
| 制修订：修订 | |
| 项目周期： 18个月 | |
| 下达日期：2020-01-13 | |
| 标准类型：方法 | |
| 中国标准分类号：71.040.99 | |
| 国际标准分类号：N53 | |
| 组织起草部门：国家标准化管理委员会 | |
| 技术委员会：全国微束分析标准化技术委员会 | |
| 起草单位 | 北京科技大学、中国航发北京航空材料研究院 |
| 采标情况 | |
