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提示：
Single crystal wafers for surface acoustic wave (SAW) device applications–Specifications and measuring methods
| 介绍 | 国家标准计划《声表面波器件用单晶晶片规范与测量方法》由TC182（全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。拟实施日期：发布即实施 |
| 项目进度 |
起草 征求意见 审查 批准 发布 |
| 基础信息 | 计划号：20194111-T-339 |
| 制修订：修订 | |
| 项目周期： 24个月 | |
| 下达日期：2020-01-13 | |
| 标准类型：方法 | |
| 中国标准分类号：31.140 | |
| 国际标准分类号：L21 | |
| 组织起草部门：国家标准化管理委员会 | |
| 技术委员会：全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会 | |
| 起草单位 | 中国电子科技集团公司第二十六研究所、中电科技德清华莹电子有限公司、天通控股股份有限公司、北京石晶光电科技股份有限公司 |
| 采标情况 | 本标准等同采用IEC国际标准：IEC 62276:2016 |
| 采标中文名称:声表面波器件用单晶晶片 规范与测量方法 |
