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Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 1: General conditions and definitions
| 介绍 | 国家标准计划《集成电路电磁抗扰度测量第1部分：通用条件和定义》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。拟实施日期：发布后3个月正式实施 |
| 项目进度 |
起草 征求意见 审查 批准 发布 |
| 基础信息 | 计划号：20194107-T-339 |
| 制修订：制定 | |
| 项目周期： 12个月 | |
| 下达日期：2020-01-13 | |
| 标准类型：方法 | |
| 中国标准分类号：31.200 | |
| 国际标准分类号：L56 | |
| 组织起草部门：国家标准化管理委员会 | |
| 技术委员会：全国集成电路标准化技术委员会 | |
| 起草单位 | 中国电子技术标准化研究院、北京智芯微电子科技有限公司、浙江诺益科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、天津先进技术研究院、广州市诚臻电子科技有限公司、扬芯科技（深圳）有限公司、北京无线电计量测试研究所、上海市计量测试技术研究院、中国家用电器研究院、河南凯瑞车辆检测认证中心有限公司、东南大学、深圳市北测标准技术服务有限公司、中国汽车工程研究院股份有限公司、北京芯可鉴科技有限公司、南京信息工程大学、中国信息通信研究院、中国合格评定国家认可中心、厦门海诺达科学仪器有限公司、苏州泰思特电子科技有限公司、郑州新基业汽车电子有限公司、北京邮电大学、南京容向测试设备有限公司、上海电器设备检测所有限公司、中国电子科技集团公司第三十二研究所 |
| 采标情况 | 本标准等同采用IEC国际标准：IEC 62132-1:2015 |
| 采标中文名称:集成电路 电磁抗扰度测量 第1部分：通用条件和定义 |
