集成电路电磁抗扰度测量第8部分：辐射抗扰度测量 IC带状线法-Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 8: Measurement of radiated immunity

介绍	国家标准计划《集成电路电磁抗扰度测量第8部分：辐射抗扰度测量IC带状线法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。拟实施日期：发布后3个月正式实施
项目进度	起草征求意见审查批准发布
基础信息	计划号：20192073-T-339
	制修订：制定
	项目周期： 18个月
	下达日期：2019-07-12
	标准类型：方法
	中国标准分类号：31.200
	国际标准分类号：L56
	组织起草部门：国家标准化管理委员会
	技术委员会：全国集成电路标准化技术委员会
起草单位	中国电子技术标准化研究院、工业和信息化部电子第五研究所、深圳市北测标准技术服务有限公司、天津先进技术研究院、北京智芯微电子科技有限公司、浙江诺益科技有限公司、扬芯科技（深圳）有限公司、广州市诚臻电子科技有限公司、北京无线电计量测试研究所、厦门海诺达科学仪器有限公司、河南凯瑞车辆检测认证中心有限公司、中国家用电器研究院、中国合格评定国家认可中心、北京芯可鉴科技有限公司、东南大学、中国汽车工程研究院股份有限公司、广东省科学院电子电器研究所、青岛金汇源电子有限公司、联想（北京）有限公司、西安优来测科技有限公司、中国电力科学研究院有限公司、广州致远电子有限公司
采标情况	本标准等同采用IEC国际标准：IEC 62132-8:2012
采标情况	采标中文名称:集成电路电磁抗扰度测量第8部分：辐射抗扰度测量 IC带状线法

集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分：辐射抗扰度测量 IC带状线法

集成电路电磁抗扰度测量第8部分：辐射抗扰度测量 IC带状线法