集成电路脉冲抗扰度测量第3部分：非同步瞬态注入法-Integrated circuits—Measurement of impulse immunity—Part 3: Non-synchronous transient injection method-中国标准在线服务网

介绍	国家标准计划《集成电路脉冲抗扰度测量第3部分：非同步瞬态注入法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。拟实施日期：发布后3个月正式实施
项目进度	起草征求意见审查批准发布
基础信息	计划号：20192072-T-339
	制修订：制定
	项目周期： 18个月
	下达日期：2019-07-12
	标准类型：方法
	中国标准分类号：31.200
	国际标准分类号：L56
	组织起草部门：国家标准化管理委员会
	技术委员会：全国集成电路标准化技术委员会
起草单位	中国电子技术标准化研究院、天津先进技术研究院、广州市诚臻电子科技有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、浙江诺益科技有限公司、广州市轰锐电子有限公司、深圳市北测标准技术服务有限公司、中国合格评定国家认可中心、扬芯科技（深圳）有限公司、北京无线电计量测试研究所、厦门海诺达科学仪器有限公司、北京芯可鉴科技有限公司、河南凯瑞车辆检测认证中心有限公司、南京信息工程大学、重庆邮电大学、苏州泰思特电子科技有限公司、中国家用电器研究院、安徽中认倍佳科技有限公司、广州广电计量检测股份有限公司、江苏省电子信息产品质量监督检验研究院（江苏省信息安全测评中心）、安徽省计量科学研究院
采标情况	本标准等同采用IEC国际标准：IEC 62215-3:2013
采标情况	采标中文名称:集成电路脉冲抗扰度测量第3部分：非同步瞬态注入法

集成电路 脉冲抗扰度测量 第3部分：非同步瞬态注入法

集成电路脉冲抗扰度测量第3部分：非同步瞬态注入法