半导体集成电路驱动器测试方法-Semiconductor integrated circuits—Test method of driver device-中国标准在线服务网

介绍	国家标准计划《半导体集成电路驱动器测试方法》由TC599（全国集成电路标准化技术委员会）归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。拟实施日期：发布后3个月正式实施
项目进度	起草征求意见审查批准发布
基础信息	计划号：20192068-T-339
	制修订：制定
	项目周期： 24个月
	下达日期：2019-07-12
	标准类型：方法
	中国标准分类号：31.200
	国际标准分类号：L56
	组织起草部门：国家标准化管理委员会
	技术委员会：全国集成电路标准化技术委员会
起草单位	中国电子技术标准化研究院、中国电子科技集团公司第二十四研究所、安徽大华半导体科技有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所、广东省中绍宣标准化技术研究院有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所、成都振芯科技股份有限公司
采标情况
采标情况