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本文件规定了厚度方向性能钢板的牌号表示方法、技术要求、样坯和试样制备、试验方法和检验规则。 本文件适用于厚度为15 mm~400 mm的镇静钢钢板。
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本文件描述了采用红外反射法测试碳化硅外延层厚度的方法。 本文件适用于n型掺杂浓度大于1×1018 cm-3的碳化硅衬底上同质掺杂浓度小于1×1016 cm-3的同质碳化硅外延层厚度的测试,测试范围为3 μm~200 μm。
本文件规定了采用光学反射法测试硅片表面二氧化硅薄膜、多晶硅薄膜厚度的方法。本文件适用于测试硅片表面生长的二氧化硅薄膜和多晶硅薄膜的厚度,也适用于所有光滑的、透明或半透明的、低吸收系数的薄膜厚度的测试,如非晶硅、氮化硅、类金刚石镀膜、光刻胶等表面薄膜。测试范围为15 nm~105 nm。
本标准规定了各类贵金属复合材料覆层厚度的扫描电镜测量方法。 本标准适用于10 nm~200 μm的覆层厚度测量。
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本标准规定了利用X射线光谱法测试电工钢表面涂层重量(厚度)的方法。本方法用于室温下测量试样单位面积上的涂层重量,其测量结果也可以用涂层厚度表示。本标准适用于表面涂层中含有稳定的、不受干扰的、X射线荧光强度较大的特性元素的电工钢,给定涂层材料的测量范围主要取决于可获得的特征X射线荧光强度和可接受的测量不确定度,并且因所使用的仪器设备和测量方式而不同。
GB/T 22638的本部分规定了铝箔厚度的测定方法。本部分规定的重量法适用于厚度小于0.10 mm的非复合箔厚度仲裁测定。本部分规定的立式光学计法适用于厚度小于0.10 mm的复合箔厚度仲裁测定。本部分规定的数显千分尺法适用于厚度不小于0.10 mm的铝箔厚度仲裁测定。
本标准规定了无缝和焊接钢管(埋弧焊接钢管除外)的全圆周超声壁厚测量的检测要求、检测方法和校验程序。 注1:全圆周检测并非意味着钢管表面的100%扫查。 注2:测厚可与使用同一超声探头即能满足检测要求的全圆周分层检测(ISO 10893-8)同时进行。在此情况下,根据ISO 108938要求,钢管表面扫查的覆盖率由所需检出最小分层尺寸决定。 本标准也适用于圆形空心型材的检测。 本标准适用的测厚范围是公称外径大于或等于25.4 mm,最小壁厚2.6 mm,除非另有商定。
本标准规定了制备氮化镓薄膜外延片及其他用途的蓝宝石单晶切割片、研磨片、抛光片(简称衬底片)厚度和厚度变化是否满足标准限度要求的测试方法。 本标准适用于蓝宝石衬底片厚度及厚度变化的测试。
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本标准规定了碳化硅单晶片厚度及总厚度变化(TTV)的测试方法,包括接触式和非接触式两种方式。 本标准适用于直径不小于30 mm、厚度为0.13 mm~1 mm的碳化硅单晶片。
本标准规定了太阳能电池用硅片(以下简称硅片)厚度及总厚度变化的分立式和扫描式测量方法。 本标准适用于符合GB/T 26071、GB/T 29055规定尺寸的硅片的厚度及总厚度变化的测量,分立式测量方法适用于接触式及非接触式测量,扫描式测量方法只适用于非接触式测量。在测量仪器准许的情况下,本标准也可用于其他规格硅片的厚度及总厚度变化的测量。
本标准规定了直径不小于50 mm,厚度不小于100 μm的切割、研磨、腐蚀、抛光、外延或其他表面状态的硅片平整度、厚度及总厚度变化的测试。 本标准为非破坏性、无接触的自动扫描测试方法,适用于洁净、干燥硅片的平整度和厚度测试,且不受硅片的厚度变化、表面状态和硅片形状的影响。
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本标准规定重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法。 本标准适用于衬底在23 ℃电阻率小于0.02 Ω·cm和外延层在23 ℃电阻率大于0.1 Ω·cm且外延层厚度大于2 μm的n型和p型硅外延层厚度的测量;在降低精度情况下,该方法原则上也适用于测试0.5 μm~2 μm之间的n型和p型外延层厚度。
本标准规定了钢板的厚度方向性能级别、试验方法及检验规则。厚度方向性能级别是对钢板的抗层状撕裂的能力提供的一种量度,厚度方向性能采用厚度方向拉伸试验的断面收缩率来评定。 本标准适用于厚度为15 mm~400 mm的镇静钢钢板。
本标准规定了硅单晶切割片、研磨片、抛光片和外延片(简称硅片)厚度和总厚度变化的分立式和扫描式测量方法。本标准适用于符合GB/T 12964、GB/T 12965、GB/T 14139规定的尺寸的硅片的厚度和总厚度变化的测量。在测试仪器允许的情况下,本标准也可用于其他规格硅片的厚度和总厚度变化的测量。
GB/T 22638的本部分规定了重量法测定铝箔厚度的方法。 本部分适用于厚度不大于0.05 mm的铝箔的厚度测定。
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