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GB/T 38841-2020 力学性能测量 反应后的Nb3Sn复合超导线室温拉伸试验方法 现行 发布日期 :  2020-06-02 实施日期 :  2020-12-01

本标准规定了反应后的Cu/Nb3Sn复合超导线室温拉伸试验方法原理、装置、试样制备、测试条件、结果计算、测量不确定度、测试报告。
本试验方法用于通过应力应变曲线来测量弹性模量和规定塑性延伸强度(由复合体中铜和铜锡组分的屈服而产生)。
另外,弹性极限、抗拉强度、断后伸长率可由本方法测量。根据国际循环比对试验报告,弹性极限和断后伸长率的测量具有很大不确定度,因此,这些物理量为选测。
本标准适用于测量横截面积在0.15 mm2~2.0 mm2,铜-非铜体积比在0.2~1.5之间的圆形或矩形截面的无绝缘覆层试样。

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本标准规定了金属材料薄板和薄带的双轴应力-应变曲线胀形试验光学测量方法的符号和说明、原理、试验设备、光学测量系统、试样、试验程序、顶点曲率变形和应变的评价方法、双轴应力-应变曲线的计算及试验报告。
本标准适用于厚度小于3 mm的金属薄板和薄带,在纯胀形过程中测定其双轴应力-应变曲线。
注: 本标准中的术语“双轴应力-应变曲线”是简称。试验所测定的是“双轴真应力-真应变曲线”。

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GB/T 19289-2019 电工钢带(片)的电阻率、密度和叠装系数的测量方法 现行 发布日期 :  2019-06-04 实施日期 :  2020-05-01

本标准规定了取向和无取向电工钢带(片)的电阻率、密度和叠装系数的测定方法。这些物理参数是材料物理性能的表征。其中,密度是测定磁极化强度、电阻率和叠装系数时需要的条件参数。
由于这些性能参数与温度相关,除非另有规定,测量将在室温23 ℃±5 ℃进行。

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GB/T 351-2019 金属材料 电阻率测量方法 现行 发布日期 :  2019-03-25 实施日期 :  2020-02-01

本标准规定了金属材料电阻率测量的术语和定义、试验设备、试样、试验、试验结果及计算、试验记录和报告。
本标准适用于测量金属材料的体积电阻率、质量电阻率、电导率及直流电阻比率等电性能的测量。
本标准所提供的方法为测定标准条件下电阻率在0.01 Ω·mm2/m~2.0 Ω·mm2/m范围内的仲裁测量方法和常规测量方法。

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GB/T 37262-2018 石油天然气工业 铝合金钻杆螺纹连接测量 现行 发布日期 :  2018-12-28 实施日期 :  2019-07-01

本标准规定了按照ISO 15546生产的铝合金钻杆的交货技术条件、制造工艺、材料要求、形状和尺寸、检验和试验程序。
本标准包含铝合金钻杆及钢接头制造的偏梯形螺纹(左旋和右旋)和相关的锥形稳定台肩(带孔)的测量程序。

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GB/T 1557-2018 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法 现行 发布日期 :  2018-09-17 实施日期 :  2019-06-01

本标准规定了采用红外光谱法测定硅单晶晶体中间隙氧含量的方法。本标准适用于室温电阻率大于0.1 Ω·cm的N型硅单晶和室温电阻率大于0.5 Ω·cm的P型硅单晶中间隙氧含量的测定。以常温红外设备测试时,氧含量(原子数)测试范围从1×1016 cm-3到硅中间隙氧的最大固溶度;以低温红外设备测试时,氧含量(原子数)的测试范围从0.5×1015 cm-3到硅中间隙氧的最大固溶度。

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GB/T 3488的本部分提供了通过使用光学或电子显微镜的金相检测技术来测量硬质合金晶粒尺寸的方法指南。
本部分适用于以WC为主硬质相的WC/Co硬质合金烧结体(也称为硬质合金或金属陶瓷),也适用于通过截线法测量晶粒尺寸及其分布。
本部分主要包含以下四个方面:
——显微镜的校准,以确保测量精度;
——线性分析法,以获得足够多具有统计意义的数据;
——分析方法,以计算具有代表性的平均值;
——报告,以符合现代质量报告要求。
本部分通过一个测量案例分析来阐述这项推荐性技术(参见附录A)。
本部分不适用于以下几个方面:
——尺寸分布的测定;
——形状的测定,在实现形状测定之前仍需更深入的研究。
矫顽磁力有时可用于测量晶粒尺寸,但本方法仅涉及金相测定法。本方法适用于硬质合金,并不适用于粉末。然而,本方法原则上也可用于测定可进行镶样、制样粉末的平均尺寸。

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GB/T 22586-2018 电子学特性测量 超导体在微波频率下的表面电阻 现行 发布日期 :  2018-03-15 实施日期 :  2018-10-01

本标准规定了在微波频率下利用双谐振器法测试超导体表面电阻的方法,测试目标是在谐振频率下RS随温度的变化。改进型镜像介质谐振器法,作为另外一种可选用的方法,在附录B中给出。本标准适用于表面电阻的测试范围如下:--频率:8 GHz<f<30 GHz;--测试分辨率:0.01 mΩ(f = 10 GHz)。测试报告给出在测试频率下的表面电阻值,并且给出利用RS ∝ f 2的关系折合到10 GHz的值。

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本标准测试方法适用于具有一体化结构,呈圆、扁平或方形结构的单芯或多芯银和/或银合金包套Bi2212 与Bi2223氧化物超导体短直样品直流临界电流的测量。本标准测试方法适用于临界电流小于500 A、n值大于5的超导体。测量可在有或无外加磁场的条件下进行。在磁场环境中测试时,磁场应垂直于样品的长度方向。在带状样品的测试中,磁场可垂直或平行于超导体较宽的一面(如果是方形,任何一面均可)。测试过程中,被测样品浸泡在液氮或液氦中。本标准还给出了在通常测试中本实验方法所允许的偏差以及其他具体限定。

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GB/T 34481-2017 低位错密度锗单晶片腐蚀坑密度(EPD)的测量方法 现行 发布日期 :  2017-10-14 实施日期 :  2018-07-01

本标准规定了低位错密度锗单晶片的腐蚀坑密度(EPD)的测量方法。本标准适用于测试位错密度小于1 000个/cm2、直径为75 mm~150 mm的圆形锗单晶片的位错腐蚀坑密度。

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GB/T 34612-2017 蓝宝石晶体X射线双晶衍射摇摆曲线测量方法 现行 发布日期 :  2017-10-14 实施日期 :  2018-05-01

本标准规定了蓝宝石晶体X射线双晶衍射摇摆曲线的测量方法。本标准适用于蓝宝石晶体X射线双晶衍射摇摆曲线的测量。

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GB/T 34504-2017 蓝宝石抛光衬底片表面残留金属元素测量方法 现行 发布日期 :  2017-10-14 实施日期 :  2018-05-01

本标准规定了蓝宝石抛光衬底片表面深度为5 nm以内的残留金属元素的全反射X光荧光光谱测试方法。本标准适用于蓝宝石抛光衬底片表面残留的、在元素周期表中11(Na)~92(U)号(除去铝和氧),且面密度在109 atoms/cm2~1015 atoms/cm2范围内元素的定量测量。其他用途蓝宝石抛光片表面残留金属元素的测量可参照本标准执行。

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