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T/CASME 698-2023 导体激光治疗仪 现行 发布日期 :  2023-09-08 实施日期 :  2023-09-15

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T/CZSBDTHYXH 001-2023 导体晶圆缺陷自动光学检测设备 现行 发布日期 :  2023-08-08 实施日期 :  2023-08-09

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T/CASME 581-2023 导体用硅环技术要求 现行 发布日期 :  2023-07-28 实施日期 :  2023-08-01

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T/CESA 1266-2023 导体集成电路光互连接口技术要求 现行 发布日期 :  2023-07-27 实施日期 :  2023-08-01

本文件界定了交换机与服务器中所使用的共封装收发器系统架构,规定了与共封装光收发器相关的交换机与服务器网络接口卡的总体布局、光学特性、电学特性、数字管理接口、机械结构等技术要求。本文件适用于采用共封装收发器技术的微电子芯片光互连接口。

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T/CASME 479-2023 导体集成电路 塑料小外形封装冲制型引线框架 现行 发布日期 :  2023-06-29 实施日期 :  2023-07-01

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T/ZJATA 0017-2023 制备碳化硅导体材料用化学气相沉积法(CVD)外延设备 现行 发布日期 :  2023-06-20 实施日期 :  2023-07-20

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T/CEMIA 033-2023 导体制程8英寸(200 mm)12英寸(300 mm)用石英玻璃炉管 现行 发布日期 :  2023-06-08 实施日期 :  2023-09-08

本文件规定了半导体制程8英寸(200 mm)12英寸(300 mm)用石英玻璃炉管的术语和定义,分类和产品结构,技术要求,试验方法,检验规则,标志、包装、贮存和运输。本文件适用于半导体扩散工艺制程8英寸(200 mm)12英寸(300 mm)用石英玻璃炉管制品,包含石英外管、石英内管、石英工艺管及石英双层管(以下简称“石英玻璃炉管”),不适用于14 nm及以下半导体制程用石英玻璃炉管。

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T/SHDSGY 135-2023 新能源导体硅片材料技术 现行 发布日期 :  2023-05-30 实施日期 :  2023-05-30

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T/QGCML 744-2023 导体设备零部件化学清洗工艺规范 现行 发布日期 :  2023-04-17 实施日期 :  2023-04-30

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T/QGCML 743-2023 导体设备零部件阳极氧化工艺规范 现行 发布日期 :  2023-04-17 实施日期 :  2023-04-30

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T/ICMTIA CM0035-2023 导体硅材料制程装置用密封垫片 现行 发布日期 :  2023-03-10 实施日期 :  2023-04-10

半导体材料提纯作为发展半导体器件的重要基础。由于大规模和超大规模集成电路的工艺要求,为得到N12级高纯度的硅材料,原料和中间体的高纯度和生产环境的高洁净度成为影响产品质量的一个突出问题。极微量的杂质混入对半导体的特性和芯片的良率均会造成极其严重的影响。因而在半导体材料和元件生产过程中对杂质必须进行严格控制。垫片作为螺栓法兰密封组合装置中重要的组成部分,它的密封性能、可靠性和清洁度也同样影响着制程的稳定性和产品质量。密封垫片是半导体硅材料行业得到广泛应用且不可或缺的基础件,但国内外一直没有对用于制造半导体硅材料工艺装置和管道上的密封垫片作出明确的技术要求规范,如密封垫片的类型、质量要求、性能参数、清洁度要求等。为了与现行行业相适应,也避免因垫片质量影响成品质量,特编制本文件。本文件旨在确立半导体硅材料制程装置用密封垫片设计、制造、性能、选用所必须的要求。

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T/CIE 144-2022 导体器件可靠性强化试验方法 现行 发布日期 :  2022-12-31 实施日期 :  2023-01-31

本文件规定了半导体器件可靠性强化试验方法,并规定了半导体器件强化试验的一般步骤、相关要求、方法及参数监测等。
本文件适用于半导体分立器件、集成电路、微波器件的可靠性强化试验指导。

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T/AHEPI 04-2022 温室气体通量监测技术规范 可调谐导体激光吸收光谱法 现行 发布日期 :  2022-12-20 实施日期 :  2023-01-03

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T/COEMA 001L-2022 蓝光导体激光器 现行 发布日期 :  2022-12-16 实施日期 :  2022-12-16

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T/SHDSGY 113-2022 射频前端导体测试软件 现行 发布日期 :  2022-11-25 实施日期 :  2022-11-25

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