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本文件规定了轴承合金与衬背之间结合缺陷的超声检验方法。本文件适用于衬背为钢基或铜基材料,衬层为铅基或锡基合金的多层金属滑动轴承,衬层厚度不小于0.5 mm。如衬背材料为铸铁,则本文件在特定条件下适用。该方法通过测定轴承合金与衬背结合处反射的超声信号确定结合缺陷。由于存在不确定反射波,因此无法在距离滑动面、法兰、对口面、油孔、油槽等边缘半个超声探头范围内的区域进行超声检测,这一点同样适用于结合面处带有燕尾槽的轴承,该方法不适用于燕尾槽边缘区域的结合缺陷检测。轴承合金与衬背间可见过渡区域(端面或对口面)的结合情况,通过GB/T 18329.3-2021描述的无损渗透法进行评价。本文件只详细描述了脉冲反射波检测法。本文件描述的超声检测法只能对结合状态进行定性评价,无法得到定量的结合强度。超声检测反射波差异只存在于结合区域与结合缺陷之间。本文件只详细阐述了将探头贴在轴承合金面一侧的脉冲反射波评定方法,如果将探头贴在衬背面一侧,则信号的处理方法与之类似。

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本文件描述了确定轴承合金与衬背结合强度破坏试验方法。本文件适用于轴承合金层基材为铅、锡、铜或铝的多层滑动轴承。为使被测合金层厚度大于或等于2 mm,未经加工的轴承合金层厚度有必要预留至少1 mm的加工余量。本文件适用于衬背材料为钢、铸钢或铜合金的轴承,不适用于衬背材料为铸铁的轴承。本文件适用于所有尺寸的止推轴承,以及衬背内径大于或等于90 mm的径向轴承。本文件可用于比较和研究不同工艺、不同材料对结合强度造成的影响,也可用于轴承的生产控制和工艺评定。合金厚度大于或等于2 mm的结合质量超声无损检验见ISO 43861。

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本文件规定了硬质聚氯乙烯(PVCU)片材(以下简称为“片材”)的原料、分类、要求及包装、标志、运输和贮存,描述了试验方法。本文件适用于厚度1 mm以下片材的生产、检验、销售等环节。本文件不适用于PVCU热收缩和双向拉伸片材。

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本文件规定了硬质聚氯乙烯(PVCU)挤出板和层压板(以下简称为“板材”)的原料、分类和标识、要求及包装、标志、运输和贮存,描述了试验方法。本文件适用于厚度1 mm及以上板材的生产、检验、销售等环节。本文件不适用于双向拉伸硬质聚氯乙烯(PVCU)板材。

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GB/T 5313-2023 厚度方向性能钢板 现行 发布日期 :  2023-09-07 实施日期 :  2024-04-01

本文件规定了厚度方向性能钢板的牌号表示方法、技术要求、样坯和试样制备、试验方法和检验规则。
本文件适用于厚度为15 mm~400 mm的镇静钢钢板。

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GB/T 42905-2023 碳化硅外延层厚度的测试 红外反射法 现行 发布日期 :  2023-08-06 实施日期 :  2024-03-01

本文件描述了采用红外反射法测试碳化硅外延层厚度的方法。
本文件适用于n型掺杂浓度大于1×1018  cm-3的碳化硅衬底上同质掺杂浓度小于1×1016 cm-3的同质碳化硅外延层厚度的测试,测试范围为3 μm~200 μm。

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GB/T 42674-2023 光学功能薄膜 微结构厚度测试方法 现行 发布日期 :  2023-08-06 实施日期 :  2024-03-01

本文件描述了通过扫描电子显微镜(SEM)检测光学功能薄膜(以下简称薄膜)横截面微结构厚度(以下简称横截面厚度)的方法。
本文件适用于厚度不小于50 nm的光学功能薄膜的单层或多层结构的厚度测试。

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本文件描述了硅基MEMS加工过程中所涉及的纳米厚度膜轴向抗拉强度原位试验的要求和试验方法。本文件适用于采用微电子工艺制造的纳米厚度膜抗拉强度测试。

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本文件描述了测定碳纤维增强塑料复合材料(CFRP)层合板的厚度方向(面外)拉伸强度、拉伸破坏应变和拉伸模量的弯曲试验方法。
本文件适用于碳纤维增强塑料复合材料单向(UD-CFRP)层合板。此外,由于厚度方向拉伸强度存在尺寸效应,还描述了有效体积的计算。

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GB/T 41535-2022 气溶胶光学厚度遥感产品真实性检验 现行 发布日期 :  2022-07-11 实施日期 :  2023-02-01

本文件规定了气溶胶光学厚度遥感产品真实性检验的基本要求、检验方法和检验报告。
本文件适用于卫星遥感数据反演的气溶胶光学厚度遥感产品的真实性检验。

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本文件描述了土工合成材料在规定压力和规定压脚面积或规定载荷点下厚度的测定方法以及测定厚度时的压力或载荷。测试结果可作鉴别用;或在技术数据表中使用;或作为其他试验方法的一部分,如:防水性能试验。本文件适用于土工合成材料。

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GB/T 20724-2021 微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法 现行 发布日期 :  2021-12-31 实施日期 :  2022-07-01

本文件描述了用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射方法。本文件适用于测定线度为几十纳米至几百微米、厚度在几十纳米至几百纳米范围内的薄晶体试样厚度。注: 由于透射电子显微镜薄试样的厚度往往不均匀,用会聚束衍射方法测定的是试样被电子束照明区的局域厚度。

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GB/T 40913-2021 玻璃瓶罐热端涂层厚度的测定方法 现行 发布日期 :  2021-11-26 实施日期 :  2022-06-01

本文件描述了玻璃瓶罐锡氧化物热端涂层厚度的测定方法。
本文件适用于各类玻璃瓶罐瓶口及瓶身0●~99 范围内热端涂层厚度的测定。

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GB/T 15717-2021 真空金属镀层厚度测试方法 电阻法 现行 发布日期 :  2021-10-11 实施日期 :  2022-05-01

本文件规定了采用电阻法测试绝缘软基材表面的真空金属镀层厚度的试验原理、试验装置、试样制备、试验步骤、试验结果的计算和表示,以及试验报告。本文件适用于绝缘软基材表面的真空金属镀层厚度的测量。

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GB/T 40279-2021 硅片表面薄膜厚度的测试 光学反射法 现行 发布日期 :  2021-08-20 实施日期 :  2022-03-01

本文件规定了采用光学反射法测试硅片表面二氧化硅薄膜、多晶硅薄膜厚度的方法。本文件适用于测试硅片表面生长的二氧化硅薄膜和多晶硅薄膜的厚度,也适用于所有光滑的、透明或半透明的、低吸收系数的薄膜厚度的测试,如非晶硅、氮化硅、类金刚石镀膜、光刻胶等表面薄膜。测试范围为15 nm~105 nm。

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