本文件描述了采用红外反射法测试碳化硅外延层厚度的方法。
本文件适用于n型掺杂浓度大于1×1018  cm-3的碳化硅衬底上同质掺杂浓度小于1×1016 cm-3的同质碳化硅外延层厚度的测试，测试范围为3 μm～200 μm。

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本文件规定了自行车非发电机供电的照明系统的性能要求，描述了相应的试验方法，适用于符合GB/T 31887.1-2019的照明装置。照明系统包括照明装置和不由自行车转动提供的电源，如：电池。本文件适用于在公共道路上行驶的自行车，特别是符合ISO 42102与ISO 8098的自行车使用的照明装置。

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本文件规定了自行车发电机供电的照明系统的性能要求，描述了相应的试验方法，适用于符合GB/T 31887.1-2019的照明装置。照明系统包括照明装置和由自行车转动提供的电源，如：发电机。本文件适用于在公共道路上使用的自行车，特别是符合ISO 42102和ISO 8098的自行车使用的照明系统。

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本文件描述了分析人员利用全反射X射线荧光(TXRF)仪器开展水样测量的化学方法。根据良好的操作实践，本方法具有确定的准确度和精密度。本文件适用于开展大量样品常规分析且按照ISO/IEC 170251)运作的实验室。
本文件描述了水(例如，饮用水、地表水、地下水)中溶解性元素含量的测定方法。考虑到特定和额外发生的干扰，按照本方法也能测定废水和洗脱液中的元素。本文件不包括采样、稀释和预浓缩方法。
本方法能测定的元素会随着仪器X射线源的改变而发生变化。本文件未涉及健康、安全和商业因素。
测量范围取决于样品基体和遇到的干扰。对于饮用水和相对未被污染的水，大多数元素的定量限介于0.001 mg/L~0.01 mg/L。测量范围通常介于0.001 mg/L~10 mg/L的浓度区间，取决于测量元素和预先设定的要求。
附录B给出了钼靶X射线源、Ga作为校准内标时的TXRF分析水样的完整方法验证示例。
大多数元素的定量限会受到空白污染的影响，且主要依赖于所使用的实验室空气处理设施以及试剂的纯度和实验器具的清洁程度。

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本文件规定了金属反射膜的光学特性、机械性能、化学稳定性和环境适应性的基本要求。本文件适用于光学领域应用的基于铝或银的金属反射膜。本文件既满足薄膜制造商选择材料和制备方法的要求，也使用户准确理解该薄膜产品的相关量化规定。

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本文件规定了反射和透射放映银幕的分类、技术要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输和贮存。本文件适用于各类电影、幻灯、投影和视频放映用银幕的设计、生产和销售，不适用于抗光幕等其他特殊用途的银幕。

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本文件规定了减反射膜的光学特性、机械性能、化学稳定性和环境适应性的基本要求。本文件适用于光学领域应用的减反射膜。本文件既可以满足薄膜制造商选择材料和制备方法的要求，也可以使用户准确理解该薄膜产品的相关量化规定。

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本文件确立了通过使用光学反射装置测量轴变形量并以此确定船舶推进系统轴功率的程序。本文件给出了测量原理、装置组成和计算方法。本文件还描述了测量精度的决定因素，包括校准程序，并指定了设备船载文档。

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本文件描述了回复反射应用的几何系统，规定了回复反射的测量方法。本文件适用于回复反射体、回复反射材料的光学性能测量。

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本文件描述了用消除光泽的漫反射法测定纸和纸板颜色的方法。本文件适用于印刷用纸和纸板。当仪器光源照射在试样上的紫外辐射量调准至与GB/T 40277规定的授权实验室提供的在CIE照明体C条件下的荧光参比标准一致时，本方法可用于测定含有荧光增白剂的纸和纸板的颜色。本文件不适用于添加了荧光染料或颜色染料的纸和纸板。

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本文件规定了利用图像分析法自动测定煤的镜质体随机反射率的原理、仪器设备与测试系统、材料、样品制备、测定步骤、结果表述、精密度、检测报告等。
本文件适用于烟煤和无烟煤之单层煤或混配煤的镜质体随机反射率自动测定。褐煤的腐植体随机反射率测定可参照使用。

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本文件规定了采用光学反射法测试硅片表面二氧化硅薄膜、多晶硅薄膜厚度的方法。本文件适用于测试硅片表面生长的二氧化硅薄膜和多晶硅薄膜的厚度，也适用于所有光滑的、透明或半透明的、低吸收系数的薄膜厚度的测试，如非晶硅、氮化硅、类金刚石镀膜、光刻胶等表面薄膜。测试范围为15 nm～105 nm。

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本标准规定了纸、纸板和纸浆蓝光漫反射因数（ISO亮度）在室内日光条件下的测定方法。本标准适用于白色和接近白色的纸、纸板和纸浆。测试含有荧光增白剂的试样时，使用荧光参比标准将仪器的紫外线（UV）辐射能量水平调整至与CIE照明体C一致的情况下才能进行测试。C光源具有一定比例的UV含量，相当于室内日光条件。注： D65亮度是通过将仪器调整至符合CIE标准照明体D65来测试的，该照明体的UV含量比本标准中规定的要高得多。D65亮度的测试方法标准为GB/T 7974。

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本文件描述了测量经化学机械抛光或外延生长的硅片上表面元素污染的原子表面密度的TXRF方法。
本文件适用于以下情形：
——原子序数从16（S）到92（U）的元素；
——原子表面密度介于1×1010 atoms/cm2~1×1014 atoms/cm2之间的污染元素；
——采用VPD（气相分解）样品制备方法得到的原子表面密度介于5×108 atoms/cm2~5×1012 atoms/cm2之间的污染元素（见3.4）。

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GB/T 5095的本部分规定了两种试验方法，通过测量传输线中连接器在时域内的反射，来评定连接器的性能。在这些方法中，受试连接器被视为传输线中具有受控特性阻抗的跃变点。
试验方法A采用精密同轴电缆和半硬同轴电缆与受试连接器和试验设备连接。该试验方法适用于多种形状的连接器或电缆组件。
试验方法B采用精密试验板、精密同轴电缆和半硬同轴电缆与受试连接器和试验设备连接。该试验方法适用于印制板连接器。

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