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【国家标准】 半导体器件　机械和气候试验方法　第26部分：静电放电(ESD)敏感度测试　人体模型(HBM)

本网站 发布时间： 2024-04-01
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适用范围：

本文件依据元器件和微电路对规定的人体模型（HBM）静电放电（ESD）所造成损伤或退化的敏感度，建立了元器件和微电路的ESD测试、评价和分级程序。本文件的目的是建立一种能够复现HBM失效的测试方法，并为不同类型的元器件提供可靠、可重复的HBM ESD测试结果，且测试结果不因测试设备而改变。重复性数据可以保证HBM ESD敏感度等级的准确划分及对比。半导体器件的ESD测试从本测试方法、机器模型（MM）测试方法（见IEC 6074927）或IEC 60749（所有部分）中的其他ESD测试方法中选择。除另有规定外，本测试方法为所选方法。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 4937.26-2023

  • 标准名称：

    半导体器件　机械和气候试验方法　第26部分：静电放电(ESD)敏感度测试　人体模型(HBM)

  • 英文名称：

    Semiconductor devices—Mechanical and climate test methods—Part 26:Electrostatic discharge(ESD)sensitivity testing—Human body model(HBM)

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2023-09-07

  • 实施日期：

    2024-04-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    31.080.01

  • 中标分类号：

    L40

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

    《半导体器件　机械和气候试验方法　第26部分:静电放电(ESD)敏感度测试　人体模型(HBM)》 IDT 等同采用

出版信息

  • 页数：

    48 页

  • 字数：

    89 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    高蕾 张魁 鲁世斌 迟雷 翟玉颖 彭浩 高金环 张瑞霞 黄杰 赵鹏 徐昕 魏兵 黎重林 颜天宝 金哲

  • 起草单位：

    中国电子科技集团公司第十三研究所、河北北芯半导体科技有限公司、安徽荣创芯科自动化设备制造有限公司、北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司、河北中电科航检测技术服务有限公司、捷捷半导体有限公司、佛山市川东磁电股份有限公司

  • 归口单位：

    全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)

  • 提出部门：

    中华人民共和国工业与信息化部

  • 发布部门：

    国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
  • 其它标准
  • 推荐标准
  • 国家标准计划

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