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- GB/T 20726-2015 微束分析 电子探针显微分析X射线能谱仪主要性能参数及核查方法
【国家标准】 微束分析 电子探针显微分析X射线能谱仪主要性能参数及核查方法
本网站 发布时间:
2016-09-02
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标准简介
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适用范围:
本标准规定了表征以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X射线能谱仪(EDS)特性最重要的性能参数。本标准仅适用于基于固态电离原理的半导体探测器能谱仪。本标准规定了与扫描电镜(SEM)或电子探针(EPMA)联用的EDS性能参数的最低要求以及核查方法。至于实际分析过程,在ISO 22309[2]和 ASTM E1508[3]中已有规范,不在本标准范围之内。
标准号:
GB/T 20726-2015
标准名称:
微束分析 电子探针显微分析X射线能谱仪主要性能参数及核查方法
英文名称:
Microbeam analysis—Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy dispersive X-ray spectrometers for use in electron probe microanalysis标准状态:
现行-
发布日期:
2015-10-09 -
实施日期:
2016-09-01 出版语种:
中文简体
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