- 您的位置:
- 中国标准在线服务网 >>
- 全部标准分类 >>
- 国家标准 >>
- L40 >>
- GB/T 4937.32-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分:塑封器件的易燃性(外部引起的)
【国家标准】 半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分:塑封器件的易燃性(外部引起的)
本网站 发布时间:
2023-12-01
开通会员免费在线看70000余条国内标准,赠送文本下载次数,单本最低仅合13.3元!还可享标准出版进度查询、定制跟踪推送、标准查新等超多特权!  
查看详情>>
标准简介
文前页下载
适用范围:
本文件适用于半导体器件(分立器件和集成电路),以下简称器件。
本文件用于确定器件是否由于外部发热造成燃烧。本试验使用针焰,模拟内部装有元器件的设备在故障条件下可能引起的小火焰的影响。
注:除了本章增加的内容以及第2章和第4章增加了标题并重新编号外,本试验方法与IEC 60749(1996)第4章1.2的试验方法一致。
本文件用于确定器件是否由于外部发热造成燃烧。本试验使用针焰,模拟内部装有元器件的设备在故障条件下可能引起的小火焰的影响。
注:除了本章增加的内容以及第2章和第4章增加了标题并重新编号外,本试验方法与IEC 60749(1996)第4章1.2的试验方法一致。
标准号:
GB/T 4937.32-2023
标准名称:
半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分:塑封器件的易燃性(外部引起的)
英文名称:
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 32:Flammability of platic-encapsulated devices(externally induced)标准状态:
现行-
发布日期:
2023-05-23 -
实施日期:
2023-12-01 出版语种:
中文简体
- 推荐标准
- 国家标准计划
- GB/T 4937.35-2024 半导体器件 机械和气候试验方法 第35部分:塑封电子元器件的声学显微镜检查
- GB/T 4937.34-2024 半导体器件 机械和气候试验方法 第34部分:功率循环
- GB/T 4587-2023 半导体器件 分立器件 第7部分:双极型晶体管
- GB/T 4937.26-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分:静电放电(ESD)敏感度测试 人体模型(HBM)
- GB/T 42709.19-2023 半导体器件 微电子机械器件 第19部分:电子罗盘
- GB/T 42709.7-2023 半导体器件 微电子机械器件 第7部分:用于射频控制和选择的MEMS体声波滤波器和双工器
- GB/T 4937.32-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第32部分:塑封器件的易燃性(外部引起的)
- GB/T 4937.31-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第31部分:塑封器件的易燃性(内部引起的)
- GB/T 4937.27-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第27部分:静电放电(ESD)敏感度测试机器模型(MM)
- GB/T 4937.23-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第23部分:高温工作寿命
- GB/T 4937.42-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第42部分:温湿度贮存
- GB/T 42706.2-2023 电子元器件 半导体器件长期贮存 第2部分:退化机理
- GB/T 42706.5-2023 电子元器件 半导体器件长期贮存 第5部分:芯片和晶圆
- GB/T 42709.5-2023 半导体器件 微电子机械器件 第5部分:射频MEMS开关
- GB/T 4937.11-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第11部分:快速温度变化 双液槽法