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Probe test method for light emitting diode chips
| 介绍 | 国家标准计划《发光二极管芯片点测方法》由339-1（工业和信息化部（电子））归口，主管部门为工业和信息化部（电子）。拟实施日期：发布后3个月正式实施 |
| 项目进度 |
起草 征求意见 审查 批准 发布 |
| 基础信息 | 计划号：20151775-T-339 |
| 制修订：制定 | |
| 项目周期： 24个月 | |
| 下达日期：2015-08-18 | |
| 标准类型：方法 | |
| 中国标准分类号：31.260 | |
| 国际标准分类号：L45 | |
| 组织起草部门：国家标准化管理委员会 | |
| 技术委员会：工业和信息化部（电子） | |
| 起草单位 | 三安光电股份有限公司、厦门市三安光电科技有限公司、中国电子技术标准化研究院、广州赛西标准检测研究院有限公司 |
| 采标情况 | |
