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【国家标准】 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法

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适用范围：

暂无

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 14847-1993

  • 标准名称：

    重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法

  • 英文名称：

    Test method for thickness of lightly doped silicon epitaxial layers on heavily doped silicon substrates by infrared reflectance

  • 标准状态：

    被代替

  • 发布日期：

    1993-12-24

  • 实施日期：

    1994-09-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    29.040.30

  • 中标分类号：

    H21

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

    EQV 等同采用

出版信息

  • 页数：

    8 页

  • 字数：

    12 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    何秀坤 李光平 叶裕宗 严世权 王琴 张志刚 钱国胜

  • 起草单位：

    机电部四十六所和上海第二冶炼厂

  • 归口单位：

  • 提出部门：

    中国有色金属工业总公司

  • 发布部门：

    国家技术监督局
  • 其它标准
  • 推荐标准
  • 国家标准计划

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