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【国家标准】 半导体器件　分立器件　第4-1部分：微波二极管和晶体管　微波场效应晶体管空白详细规范

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适用范围：

本空白详细规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一，并应与下列国家标准一起使用。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 21039.1-2007

  • 标准名称：

    半导体器件　分立器件　第4-1部分：微波二极管和晶体管　微波场效应晶体管空白详细规范

  • 英文名称：

    Semiconductor devices—Discrete devices—Part 4-1:Microwave diodes and transistors—Microwave field effect transistors—Blank detail specification

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2007-06-29

  • 实施日期：

    2007-11-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    31.080.30

  • 中标分类号：

    L41

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

    IDT 等同采用

出版信息

  • 页数：

    16 页

  • 字数：

    22 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    罗发明 刘春勋

  • 起草单位：

    中国电子技术标准化研究所

  • 归口单位：

    全国半导体分立器件标准化分技术委员会

  • 提出部门：

    中华人民共和国信息产业部

  • 发布部门：

    中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
  • 其它标准
  • 推荐标准
  • 国家标准计划

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