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【国家标准】 电子元器件 半导体器件长期贮存 第5部分:芯片和晶圆
本网站 发布时间:
2023-09-01
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标准简介
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适用范围:
本文件规定了单个芯片、部分晶圆或整个晶圆,以及带金属结构(引入金属层、植球植柱等)芯片的贮存条件和规则,同时为含有芯片或晶圆的通用和专用封装产品提供了操作指导。
本文件适用于预计贮存时间超过12个月的芯片和晶圆的长期贮存。
本文件适用于预计贮存时间超过12个月的芯片和晶圆的长期贮存。
标准号:
GB/T 42706.5-2023
标准名称:
电子元器件 半导体器件长期贮存 第5部分:芯片和晶圆
英文名称:
Electronic components—Long-term storage of electronic semiconductor devices—Part 5:Die and wafer devices标准状态:
现行-
发布日期:
2023-05-23 -
实施日期:
2023-09-01 出版语种:
中文简体
起草人:
闫萌 彭浩 晋李华 汪良恩 石东升 张鑫 刘玮 魏兵 赵鹏 杨洋 徐昕 麦日容 高瑞鑫 米村艳 何黎 于洋 董鸿亮起草单位:
中国电子科技集团公司第十三研究所、河北北芯半导体科技有限公司、安徽安芯电子科技股份有限公司、河北中电科航检测技术服务有限公司、北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司、深圳市标准技术研究院、绵阳迈可微检测技术有限公司、武汉格物芯科技有限公司、山东省中智科标准化研究院有限公司、广东伟照业光电节能有限公司归口单位:
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)提出部门:
中华人民共和国工业和信息化部发布部门:
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
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