开发票 会员介绍
购物车 400-168-0010

标准详细信息 去购物车结算

【国家标准】 硅单晶电阻率的测定　直排四探针法和直流两探针法

本网站 发布时间： 2021-12-01
开通会员免费在线看70000余条国内标准，赠送文本下载次数，单本最低仅合13.3元！还可享标准出版进度查询、定制跟踪推送、标准查新等超多特权！   查看详情>>
标准简介标准简介

文前页下载

适用范围：

本文件规定了用直排四探针法和直流两探针法测试硅单晶电阻率的方法。
本文件适用于硅单晶电阻率的测试，其中直排四探针法可测试的p型硅单晶电阻率范围为7×10-4 Ω·cm～8×103 Ω·cm，n型硅单晶电阻率范围为7×10-4 Ω·cm～1.5×104 Ω·cm；直流两探针法适用于测试截面积均匀的圆形、方形或矩形硅单晶的电阻率，测试范围为1×10-3 Ω·cm～1×104 Ω·cm，样品长度与截面最大尺寸之比不小于3:1。硅单晶其他范围电阻率的测试可参照本文件进行。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 1551-2021

  • 标准名称：

    硅单晶电阻率的测定　直排四探针法和直流两探针法

  • 英文名称：

    Test method for measuring resistivity of monocrystal silicon—In-line four-point probe and direct current two-point probe method

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2021-05-21

  • 实施日期：

    2021-12-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    77.040

  • 中标分类号：

    H21

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

    28 页

  • 字数：

    46 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    刘立娜 刘兆枫 何烜坤 刘刚 杨素心 孙燕 高英 王昕 梁洪 潘金平 楼春兰 宗冰 李慎重 潘文宾 蔡丽艳 王志强 皮坤林

  • 起草单位：

    中国电子科技集团公司第四十六研究所、有色金属技术经济研究院有限责任公司、有研半导体材料有限公司、广州市昆德科技有限公司、青海芯测科技有限公司、浙江海纳半导体有限公司、乐山市产品质量监督检验所、中国计量科学研究院、亚洲硅业(青海)股份有限公司、浙江金瑞泓科技股份有限公司、开化县检验检测研究院、南京国盛电子有限公司、青海黄河上游水电开发有限责任公司新能源分公司、义乌力迈新材料有限公司

  • 归口单位：

    全国半导体设备与材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备与材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC2)

  • 提出部门：

    全国半导体设备与材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备与材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC2)

  • 发布部门：

    国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
  • 其它标准
  • 推荐标准
  • 国家标准计划

经营许可证编号 京ICP备16035570号-4 版权所有 侵权必究