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GB/T 40720-2021 硫化橡胶 绝缘电阻的测定 现行 发布日期 :  2021-10-11 实施日期 :  2022-05-01

本文件描述了测定硫化橡胶和热塑性橡胶绝缘电阻的试验方法,本方法不再区分体积电阻和表面电阻。
本文件仅适用于电阻大于108 Ω的试样。
注: 低电阻试样的测试方法在ISO 1853和ISO 2878中进行描述。
由于试样简单且容易制备,因此这种方法特别适用于不要求高精度的结果、只要求一般定性的快速测定电阻值的情况。

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GB/T 15717-2021 真空金属镀层厚度测试方法 电阻 现行 发布日期 :  2021-10-11 实施日期 :  2022-05-01

本文件规定了采用电阻法测试绝缘软基材表面的真空金属镀层厚度的试验原理、试验装置、试样制备、试验步骤、试验结果的计算和表示,以及试验报告。本文件适用于绝缘软基材表面的真空金属镀层厚度的测量。

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GB/T 26277-2021 轮胎电阻测量方法 现行 发布日期 :  2021-10-11 实施日期 :  2022-05-01

本文件规定了在专门的测量装置上,测量负荷下的充气轮胎和实心轮胎电阻的方法。车辆上的静电通常需要通过轮胎来释放,轮胎的电阻反过来衡量轮胎释放车辆静电荷的能力。
本文件规定了测量装置和测量条件、测量方法,以便能精确地测定不超过1012 Ω的轮胎电阻。
本文件适用于充气轮胎和实心轮胎电阻的测量。

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GB/T 15078-2021 贵金属电触点材料接触电阻的测量方法 现行 发布日期 :  2021-08-20 实施日期 :  2022-03-01

本文件规定了贵金属电触点材料(静态)接触电阻的测量方法。
本文件适用于贵金属电触点材料接触电阻的测量。其他金属及合金电触点材料也可参照使用。

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本文件规定了测量设备的要求,这些测量设备是指以测得值指示或以极限值指示的用于测量包括连接线和端子在内的接地导体、保护接地导体以及等电位连接导体电阻的设备。

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本文件规定了适用于使用交流电压来测量对地电阻的测量设备的要求。

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GB/T 39978-2021 纳米技术 碳纳米管粉体电阻率 四探针法 现行 发布日期 :  2021-05-21 实施日期 :  2021-12-01

本标准规定了碳纳米管粉体压制成厚块的电阻率的四探针测试方法。
本标准适用于采用四探针法测试试样厚度大于4倍探针间距的碳纳米管粉体电阻率的样品。其他碳材料的粉体电阻率测试可参考执行。

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GB/T 25301-2021 电阻焊设备 变压器 适用于所有变压器的通用技术条件 现行 发布日期 :  2021-05-21 实施日期 :  2021-12-01

本文件规定了适用于电阻焊设备的以下类型变压器的技术条件:--用于交流焊接的单相变压器,通常工作于50 Hz或60 Hz;--用于直流焊接的连接整流器的单相变压器,通常工作于50 Hz或60 Hz;--用于直流焊接的连接整流器的单相逆变变压器,通常工作于400 Hz~2 kHz;--用于直流焊接的连接整流器的三相变压器,通常工作于50 Hz或60 Hz。就本文件而言,变压器一词可以指单独的或连接整流器(变压器整流器单元)的变压器。本文件适用于符合IEC 61140的Ⅰ类或Ⅱ类保护变压器。注: 本文件的要求可通过其他电阻焊变压器标准来补充,例如:ISO 22829和ISO 10656。

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GB/T 40007-2021 纳米技术 纳米材料电阻率的接触式测量方法 通则 现行 发布日期 :  2021-05-21 实施日期 :  2021-12-01

本标准规定了纳米材料电阻率的接触式测量方法,包括测量原理、仪器设备、测量条件、测量步骤、影响因素等。
本标准中静态四探针法(A法)适用于纳米薄膜、纳米浆料和纳米粉体的电阻率测量;动态四探针法(B法)、动态四线两电极法(C法)适用于纳米粉体电阻率的测量。

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GB/T 8366-2021 电阻焊 电阻焊设备 机械和电气要求 现行 发布日期 :  2021-05-21 实施日期 :  2021-12-01

本文件定义并规定了用于下列电阻焊的设备的特定电气和机械性能:--电阻点焊;--凸焊;--电阻缝焊;--对焊1);和--闪光焊2)。本文件规定了设备的技术参数以及测量这些性能的方法。并不是所有的要求都适用于所有类型的设备。电阻焊设备包括以下类型:--单相交流电阻焊机;--单相次级整流电阻焊机;--单相逆变电阻焊机;--三相次级整流电阻焊机;--三相初极整流电阻焊机(有时称为变频器);--三相逆变电阻焊机。本文件不适用于与设备分开的阻焊变压器。注: IEC 621351规定了电阻焊设备的安全要求。1)〓通常指非优选术语,butt welding。2)〓通常指非优选术语,flash butt welding。

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GB/T 1551-2021 硅单晶电阻率的测定 直排四探针法和直流两探针法 现行 发布日期 :  2021-05-21 实施日期 :  2021-12-01

本文件规定了用直排四探针法和直流两探针法测试硅单晶电阻率的方法。
本文件适用于硅单晶电阻率的测试,其中直排四探针法可测试的p型硅单晶电阻率范围为7×10-4 Ω·cm~8×103 Ω·cm,n型硅单晶电阻率范围为7×10-4 Ω·cm~1.5×104 Ω·cm;直流两探针法适用于测试截面积均匀的圆形、方形或矩形硅单晶的电阻率,测试范围为1×10-3 Ω·cm~1×104 Ω·cm,样品长度与截面最大尺寸之比不小于3:1。硅单晶其他范围电阻率的测试可参照本文件进行。

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本文件规定了在施加直流电压下,固体绝缘材料的体积电阻和体积电阻率的试验方法。本文件适用于不饱和聚酯基浸渍树脂、环境固化覆盖漆、热固化类浸渍清漆等材料。

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本文件描述了0.1 Hz~100 MHz频率范围内测定固体绝缘材料介电常数和介质损耗因数特性的试验方法(AC方法)。
注: 本文件主要考虑带有保护电极的测量装置系统。

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本文件规定了直流电压下和温度不高于800 ℃时,绝缘材料的体积电阻和体积电阻率的测试方法。本文件适用于耐高温云母板、氧化铝陶瓷等材料。

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本文件规定了测量绝缘电阻设备的要求,这些设备适用于测量在非激励状态下的设备和电气安装设备的绝缘电阻。

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