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本文件描述了基于谐振微质量法获得纳米材料与气体界面作用热力学参数和动力学参数的方法，包括方法原理、仪器和设备、测试样品和试剂、测试方法、数据处理、测试报告。
本文件适用于热力学参数与动力学参数的测量，包括标准焓变（ΔH°）、标准熵变（ΔS°）、标准吉布斯自由能变（ΔG°）、活化能（Ea）等。

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本文件界定了纳米科技中与量子现象相关的术语和定义。
本文件适用于纳米科技，其中许多术语也适用于某些更大尺度的体系。
本文件未涵盖纳米科技中全部量子概念和现象，但涵盖了学术界、工业界等许多利益方公认的重要现象。
本文件旨在促进在工业界的组织和个体以及对其感兴趣的人员之间的交流。
注1： 传统物理学和量子物理学的一些术语见附录A。
注2： 纳米科技术语与实际应用和产品的对照关系见附录B。

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This standard specifies the instrumented nanoindentation test methods for measuring the indentation hardness and modulus of thin film.
This standard is applicable to thin film adhering to solid surface.The indentation direction is perpendicular to the sample surface.The depth range of indentation is usually manometers and can be also extended to several micrometers.

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This standard specifies the capability requirements and basic test methods for instrumented nanoindentation test instruments,also specifies the requirements for instrument calibration and inspection,indenter and reference materials,and the determined method of instrument compliance and indenter area function.This standard gives the data analysis methods for determining hardness and material parameters and cautions for use of indenter.
This standard is applicable to measure hardness and modulus etc.of various bulk materials and thin films.The range of the indentation depth is generally at nanoscale and can be also extended to several micrometers.

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本文件描述了离子束辐照诱导应变技术构建三维纳米结构与器件的加工方法，主要包括加工原理、材料与设备、环境条件、加工方法。本文件适用于离子束辐照诱导直立纳米线和平面纳米薄膜的空间应变，进而实现三维空间中由一维纳米线和二维纳米薄膜构成的三维纳米结构与器件。

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本文件描述了一种在标准混凝土楼板模块上铺设覆面层并以标准撞击器激励时测定楼板覆面层撞击声改善量的实验室方法。
本方法仅适用于测量“局部”传递撞击声的软质和柔性的楼板覆面层，此类局部反应楼板覆面层在紧靠激励点的区域向下传递撞击声，因此试件的大小对测试结果没有影响。局部反应楼板覆面层包括地毯、聚氯乙烯(PVC)地板和地毡等柔软性的地面材料。
本文件仅涉及噪声辐射测量，不涉及楼板覆面层质量的主观分级。
本方法与ISO 10140(所有部分)规定的方法相比，在测量频率范围内两种方法测量结果的偏差一般在测量不确定度范围之内。如果两种方法的测量结果出现较大差异，则以按ISO 10140（所有部分）测量的结果为准。
本文件提供了测量方法，关于试件的技术要求(例如：温度范围、试件数量或试件安装条件等)一般由产品测试规程进一步规定。
注：如果被测试件不是柔软性的材料，例如那些夹层结构，由于测试结果与试件尺寸有关，那么测试结果与按ISO 10140（所有部分）测试相比，二者间的偏差可能会增大。

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本文件描述了亚纳米厚度石墨烯薄膜的霍尔器件样品制备与载流子迁移率及方块电阻测量的原理、设备、器件制备及测量过程、计算方法、不确定度的分析与计算，以及测量报告等。
本文件适用于长度和宽度均大于100 μm的亚纳米厚度石墨烯薄膜的载流子迁移率（<104 cm2/Vs）和方块电阻的测量。

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