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DB35/T 1248-2012 电子工业用锗烷气体中杂质含量的测定气相色谱法 现行 发布日期 :  2012-05-04 实施日期 :  2012-08-05

本标准规定了用气相色谱法测定电子工业用锗烷气体中杂质含量的方法。 本标准适用于电子工业用锗烷气体中氢、氧(氩)、氮、甲烷、一氧化碳、二氧化碳含量的测定。 各杂质组分的检测限:氢:0.02 μmol/mol、氧(氩):0.01 μmol/mol、氮:0.01μmol/mol、甲烷:0.005 μmol/mol、一氧化碳:0.02 μmol/mol、二氧化碳:0.005μmol/mol;各杂质组分检测线性范围:氢、氧(氩)、氮≤1000μmol/mol,甲烷、一氧化碳、二氧化碳≤2000μmol/mol。

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