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本文件描述了用于最高等级几何量测量的扫描探针显微镜(SPM)扫描轴的表征和校准方法,适用于提供进一步校准的测量系统,而不适用于校准等级需求较低的一般工业应用。
本文件旨在:
——通过对长度单位溯源,提高SPM几何量测量结果的可比性;
——明确校准程序及验收条件的最低要求;
——确认被校准仪器的能力(赋予仪器“校准能力”所属的类别);
——规定校准的范围(测量及环境条件、测量范围、时间稳定性、通用性);
——根据ISO/IEC Guide 98-3,提供模型来计算SPM测量中简单几何量的不确定度;
——规定报告结果的要求。

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GB/T 12823.4-2008 摄影 密度测量 第4部分:反射密度的几何条件 现行 发布日期 :  2008-09-24 实施日期 :  2009-05-01

GB/T 12823的本部分规定了测量相纸和印刷制版材料反射密度的几何条件。 本部分规定了各个方位角的照明条件。这种测量对于条纹表面的定向反射不敏感。本部分不涵盖采用偏振光的测量条件。 本部分适用于加工后的相纸材料的反射特性测量,也可应用于其他材料的相同特性测量。

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GB/T 11500-2008 摄影 密度测量 第2部分:透射密度的几何条件 现行 发布日期 :  2008-06-18 实施日期 :  2009-02-01

本标准规定了测量ISO漫透射密度和f/4.5、f/1.6投影透射密度的几何条件。 漫透射密度主要应用在透明照明器(查片箱)上观看的影像、接触印制影像以及具有漫射照明系统投影的影像测量。 投影密度主要应用于带有聚光镜的影像测量。 虽然在本标准规定的密度测量方法主要用于影像测量,但是也经常应用到滤光器和其他透明材料的测量。

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GB/T 3672.2-2002 橡胶制品的公差 第2部分:几何公差 现行 发布日期 :  2002-05-29 实施日期 :  2002-12-01

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GB/T 11500-1989 摄影透射密度测量的几何条件 被代替 发布日期 :  1989-06-28 实施日期 :  1990-06-01

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