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本标准规定了透射电镜(TEM)在很大放大倍率范围内所记录的图像的校准方法。用于校准的标准物质具有周期性结构,例如衍射光栅复型、半导体的超点阵结构或X射线分析的分光晶体以及碳、金或硅的晶体晶格像。
本标准适用于记录在照相胶片上或成像板上或数字相机内置传感器采集的 TEM图像的放大倍率。本标准也可用于校准标尺,但不适用于专用的临界尺寸测长透射电镜(CD-TEM)和扫描透射电镜(STEM)。

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GB/T 34168-2017 金、银纳米颗粒材料生物效应的透射电子显微镜检测方法 现行 发布日期 :  2017-09-07 实施日期 :  2018-08-01

本标准规定了用透射电子显微镜(以下简称透射电镜)检测含有金、银纳米颗粒材料的生物试样超微结构的技术和规范。本标准规定的各项准则,主要适用于透射电子显微镜对金、银纳米材料的生物效应检测分析。

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本标准规定了利用扫描电子显微镜(SEM)及能谱仪(EDS)观测环境空气中细粒子单颗粒形貌、定性分析元素,对环境空气颗粒物进行分类的方法。扫描电镜用于颗粒物的形貌观察和粒径测量,X射线能谱仪用于颗粒物主要元素定性分析。本标准适用于在电子束轰击下稳定的颗粒物分析,不适用于硝酸盐、铵盐等热不稳定的颗粒物分析。

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GB/T 35924-2018 固体化工产品中水分含量的测定 热重法 现行 发布日期 :  2018-02-06 实施日期 :  2018-09-01

本标准规定了固体化工产品中水分含量的热重分析方法。本标准适用于水分含量范围为0.050%~28.00%的固体化工产品中水分含量的测定。本标准不适用于室温风化、潮解及易挥发的化工产品及分解温度低于105 ℃的化工产品测定。对于部分样品,水分含量中可能包含105 ℃以下挥发物的量。

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GB/T 35930-2018 化工产品饱和蒸气压的测定 热重法 现行 发布日期 :  2018-02-06 实施日期 :  2018-09-01

本标准规定了用热重法测定化工产品饱和蒸气压的方法。本标准适用于饱和蒸气压值在1-10 Pa~1 Pa范围内的所有固体和液体。测量时化工产品中的杂质对蒸气压结果有一定的影响。

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本标准规定了在不同实验气氛下利用热重法分析碳纳米管试样中的无定形碳、灰分和挥发物的含量以及碳纳米管的主要氧化温度、热稳定性的方法,实验气氛包括二氧化碳气氛、氧与合成空气的混合气气氛和氮气气氛。
本标准适用于化学气相沉积法获得的单壁及多壁碳纳米管试样。其他制备方法获得的碳纳米管试样可参照执行。

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GB/T 36401-2018 表面化学分析 X射线光电子能谱 薄膜分析结果的报告 现行 发布日期 :  2018-06-07 实施日期 :  2019-05-01

本标准给出了采用XPS对基材上薄膜的分析报告所需的最少信息量要求的说明。这些分析涉及化学组成和均匀薄膜厚度的测量,以及采用变角XPS、XPS溅射深度剖析、峰形分析和可变光子能量XPS的方式对非均匀薄膜作为深度函数的化学组成的测量。

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GB/T 36533-2018 硅酸盐中微颗粒铁的化学态测定 俄歇电子能谱法 现行 发布日期 :  2018-07-13 实施日期 :  2019-06-01

本标准规定了硅酸盐中微颗粒铁的识别及其含量测量的俄歇电子能谱方法。本标准适用于30 nm 以上微颗粒铁的测量。

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GB/T 37664的本部分规定了进行发光纳米材料量子效率可重复测量时遵循的步骤和注意事项。
本部分适用的发光纳米材料包括量子点、纳米荧光粉、纳米粒子、纳米纤维、纳米晶、纳米片和包含这些材料的结构体。发光纳米材料既可以分散在液相(例如,胶体量子点)也可以分散在固相(例如,含发光纳米粒子的纳米纤维)。本部分既规定了液态发光纳米材料量子效率的相对测量方法,也规定了固态和液态纳米材料量子效率的绝对测量方法。

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GB/T 14666-2025 分析化学术语 现行 发布日期 :  2025-01-24 实施日期 :  2025-08-01

本文件界定了分析化学中基础化学、抽样与前处理、化学分析、电化学分析、光谱分析、色谱分析、质谱分析、核磁共振波谱分析、热分析、数据处理类的术语和定义。
本文件适用于分析化学标准、技术文件、书刊的编写与应用。

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GB/T 16483-2008 化学品安全技术说明书 内容和项目顺序 现行 发布日期 :  2008-06-18 实施日期 :  2009-02-01

本标准规定了化学品安全技术说明书(SDS)的结构、内容和通用形式。 本标准适用于化学品安全技术说明书的编制。 本标准既不规定SDS的固定格式,也不提供SDS的实际样例。

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GB/Z 32490-2016 表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序 现行 发布日期 :  2016-02-24 实施日期 :  2017-01-01

本指导性技术文件给出了确定X射线光电子能谱中本底的指南。本指导性技术文件适用于固体表面X射线激发的光电子和俄歇电子能谱的本底确定。

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GB/Z 32494-2016 表面化学分析 俄歇电子能谱 化学信息的解析 现行 发布日期 :  2016-02-24 实施日期 :  2017-01-01

本指导性技术文件规定了识别X射线或者电子激发的俄歇谱中的化学效应以及把它们用于化学表征的方法准则。

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GB/Z 35959-2018 液相色谱-质谱联用分析方法通则 现行 发布日期 :  2018-02-06 实施日期 :  2018-09-01

本指导性技术文件规定了使用液相色谱-质谱联用分析方法进行定性定量分析的通用规则。
本指导性技术文件适用于使用液相色谱-质谱联用分析方法对化合物定性定量分析的一般要求。

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GB/T 40109-2021 表面化学分析 二次离子质谱 硅中硼深度剖析方法 现行 发布日期 :  2021-05-21 实施日期 :  2021-12-01

本文件描述了用扇形磁场或四极杆式二次离子质谱仪对硅中硼进行深度剖析的方法,以及用触针式表面轮廓仪或光学干涉仪深度定标的方法。
本文件适用于硼原子浓度范围1×1016 atoms/cm3~1×1020 atoms/cm3的单晶硅、多晶硅或非晶硅样品,溅射弧坑深度在50 nm及以上。

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