微信公众号随时随地查标准

QQ交流1群(已满)

QQ群标准在线咨询2

QQ交流2群

购买标准后,可去我的标准下载或阅读
GB/T 40279-2021 硅片表面薄膜厚度的测试 光学反射法 现行 发布日期 :  2021-08-20 实施日期 :  2022-03-01

本文件规定了采用光学反射法测试硅片表面二氧化硅薄膜、多晶硅薄膜厚度的方法。本文件适用于测试硅片表面生长的二氧化硅薄膜和多晶硅薄膜的厚度,也适用于所有光滑的、透明或半透明的、低吸收系数的薄膜厚度的测试,如非晶硅、氮化硅、类金刚石镀膜、光刻胶等表面薄膜。测试范围为15 nm~105 nm。

定价: 29元 / 折扣价: 25 加购物车

在线阅读 收 藏

本标准规定了金属材料薄板和薄带的双轴应力-应变曲线胀形试验光学测量方法的符号和说明、原理、试验设备、光学测量系统、试样、试验程序、顶点曲率变形和应变的评价方法、双轴应力-应变曲线的计算及试验报告。
本标准适用于厚度小于3 mm的金属薄板和薄带,在纯胀形过程中测定其双轴应力-应变曲线。
注: 本标准中的术语“双轴应力-应变曲线”是简称。试验所测定的是“双轴真应力-真应变曲线”。

定价: 43元 / 折扣价: 37 加购物车

在线阅读 收 藏
GB/T 14140.1-1993 硅片直径测量方法 光学投影法 被代替 发布日期 :  1993-02-06 实施日期 :  1993-10-01

定价: 19元 / 折扣价: 17 加购物车

在线阅读 收 藏
3 条记录,每页 15 条,当前第 1 / 1 页 第一页 | 上一页 | 下一页 | 最末页  |     转到第   页